O espectro eletromagnético

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Transcrição:

Difração de Raios X

O espectro eletromagnético luz visível raios-x microondas raios gama UV infravermelho ondas de rádio Comprimento de onda (nm)

Raios Absorção, um fóton de energia é absorvido promovendo elétrons a níveis superiores ou fora do átomo Difração se produz quando a direção de propagação de um fóton é difratado um determinado angulo

DIFRAÇÃO DE RAIOS X Fenômeno de espalhamento da radiação eletromagnética, provocada pela interação entre o feixe de raios-x incidente e os elétrons dos átomos componentes de um material. Raios X Feixe difratado Feixe atravessa o cristal

Condições básicas 1 Fenômeno da Difração O material (objeto difrator) tem que ser periódico

2 O tamanho da periodicidade dos átomos (espaçamento, d) desse material tem que ser do ordem do cumprimento de onda (λ) da radiação utilizada

Dois raios que incidem em planos vizinhos, com cumprimento de onda λ Diferença entre os dois caminhos (cor rosa) = λ Diferença de caminhos é menor = ½ λ Fotons saem em fase e suas ondas se reforçam Fotons dispersados se cancelam entre si, ondas que não estão em fase Sinal, raio difratado intenso Não sinal, I = 0

Lei de Bragg (1913) d d λ θ θ n = 2 d sen( ) d senθ d senθ Parâmetro experimental: - Comprimento de onda da radiação ( 1.54 A Kα Cu) Parâmetros da amostra: d - distância entre planos atômicos - orientação desses planos em relação ao feixe, ângulo de Bragg n - ordem de difração (numero inteiro 1,2,3)

Quem cumpre essas condições? Material Radiação Incidente Materiais cristalinos (rede cristalina) d = 5 15 Å Raios X λ 1 Å Exemplo Cristal típico 5-15Å Emissões dos tubos de Mo e Cu Mo (λ=0.7 Å) y Cu (λ =1.5 Å)

Técnica de DRX A técnica consiste na incidência da radiação em uma amostra e na detecção dos fótons difratados, que constituem o feixe difratado. Estudar os efeitos causados pelo material sobre esse feixe de radiação Determinar experimentalmente a estrutura cristalina do material

CRISTAL Estes materiais cristalinos, têm uma estrutura altamente organizada, em contraposição aos materiais amorfos 2nm Fronteira entre dois cristais de TiO 2. Carbono amorfo.

Cela Unitária Estrutura geométrica básica (menor tijolo) que repetido no espaço gera a rede cristalina

Os 7 Sistemas Cristalinos Existem 7 tipos de células unitárias que preenchem totalmente o espaço Cúbica a=b=c, Tetragonal a=b c, Ortorrômbica a b c, Romboédrica a=b=c, Hexagonal* a=b c, Monoclínica a b c, Triclínica a b c,

As 14 Redes de Bravais Cúbica Simples Cúbica de Corpo Centrado Cúbica de Face Centrada Tetragonal Simples Tetragonal de Corpo Centrado Ortorrrômbica Simples Ortorrrômbica de Corpo Centrado Ortorrrômbica de Base Centrada Ortorrrômbica de Face Centrada Romboédrica Simples Hexagonal Monoclínica Simples Monoclínica de Base Centrada Triclínica

ccc Estas Redes de Bravais representam os átomos como esferas rígidas que se tocam. As esferas encontram-se colocadas na cela unitária a R cfc 1 átomo inteiro 1/8 de átomo 1/8 de átomo 1/2 átomo

Amostras Cristalinas Monocristais Policristais

Monocristais Os monocristais são compostos sólidos de átomos organizados num modelo periódico tridimensional que se estende por todo o material. Amostra é uma rede única (monocristal),

Monocristais Técnica de Laue, 1912 Monocristal

Policristais Os policristais são sólidos formados por muitos pequenos monocristais (partículas) com diferentes orientações.

Policristais Este método foi criado por Debye e Scherrer em 1916. É a técnica mais simples para se obter dados de difração de raios X. Em vez de um único cristal com orientação definida em relação ao feixe de raio X utiliza-se uma pequena quantidade de amostra (pó). ±100 mg, finamente divididos e orientados ao acaso.

Difratômetro Equipamento utilizado No difratômetro, se obtém um registro gráfico das sinais que as reflexões originam em detectores eletrônicos de radiação.

Intensidade (u.a) Difratômetro: Saída: Difratograma = 0.1542 nm (CuK ) Ângulo (2 )

Difratômetro

Fonte de Raios X Raios X monocromáticos: Elétrons acelerados golpeiam um anodo metálico que emite raios X.

RAIOS - X Produzidos por elétrons de alta velocidade que são freados bruscamente por colisões com átomos. Para produção de raios-x, necessita-se de Gerador de Elétrons Acelerador de Elétrons Alvo ou anteparo (emissor dos raios-x)

ACELERADOR DE ELÉTRONS Sistema cátodo + ânodo estabelecendo uma ddp elevada, para acelerar os elétrons contra o alvo. ALVO OU ANTEPARO Utilizado para deter (por choques) os elétrons transformando suas energias cinética em energia radiante. O GERADOR

Produção de raios x Da mesma forma que um fóton é emitido quando um elétron da camada mais externa de um átomo (elétron de valência ) decai de um nível de energia mais alto ( nível excitado ) para outro de energia mais baixo, um fóton de energia na faixa do raio x é emitido quando as transições do elétron envolvem camadas mais internas do átomo

Monocromador Prover um feixe de luz monocromática com um cumprimento de onda e uma amplitude determinadas.

Goniômetro Orienta o cristal para que os raios X incidam sobre todos os planos (da cela unitária) que cumprem com a Lei de Bragg e geram feixes refratados.

Detectores Os detectores de raios X operam em modo de contadores de fótons

Difratômetro de raios X

z Plano de rede y x Para poder descrever a estrutura cristalina (cela unitária) definem se Planos de Rede.

Índices de Miller Notação para definir os planos de rede Obtém-se as intersecções do plano com os eixos. Obtém-se o inverso das intersecções (coordenadas do espaço recíproco). Multiplica-se para obter os menores números inteiros. 1 z h = 1/x k = 1/y l = 1/z Intersecções: 1/2, 1 Inversos: 2, 0,1 (coordenadas do espaço recíproco) Índices de Miller: (201) y Parâmetros de rede x 1/2

Experimento de Difração de Raios X z h k L Int y x

O que é importante observar no difratograma? Intensidade relativa Parâmetro de rede (h,k,l) Tamanho do cristalito Distancia interplanar

Intensidade Relativa Posição 2 Intensidade Relat. I/I 1 I 1 pico de maior intensidade Forma B(2 ) Largura na metade da altura do pico

Parâmetros de Rede (311) (321) (410) (110) (111) (210) (220) (211) (300) (320) (420) (330) (332) (422) 2 I/I 1 h k l 7.193 100 1 0 0 10.156 69 1 1 0 12.449 35 1 1 1 16.085 25 2 1 0 17.632 2 2 1 1 20.368 6 2 2 0 21.638 36 3 0 0 23.960 53 3 1 1 26.077 16 3 2 0 27.077 47 3 2 1 29.913 55 4 1 0 Zeólita A ICDD 38-0241

Intensidade (u.a) Ex: Espectro de difração para Al = 0.1542 nm (CuK ) Ângulo (2 ) Uma amostra desconhecida é analisada e seus picos comparados com os de materiais conhecidos e tabelados, permitindo assim a identificação do material.

Tamanho do cristalito (Diâmetro médio das partículas) Equação de Scherrer D hkl K cos( ) Onde: D - diâmetro médio das partículas K - constante que depende da forma das partículas (esfera = 0,94) λ - comprimento de onda da radiação eletromagnética θ - ângulo de difração β (2θ) - largura na metade da altura do pico de difração

(140)/(031) TC= k Bg(2 ) cos( ) 1.17 =Bh(2 ) Dados experimentais: o = 1.54 A = 19.25 k = 0.9 Correção instrumental: Bf=0.59 Bg 2 = Bh 2 - Bf 2 Bg= 1.01 = 0.0176 rad o TC = 80 A

(140)/(031) TC= k Bg(2 ) cos( ) 0.69 =Bh(2 ) Dados experimentais: o = 1.54 A = 19.25 k = 0.9 Correção instrumental: Bf=0.59 Bg 2 = Bh 2 - Bf 2 Bg= 0.69 = 0.012 rad o TC = 230 A

Cada técnica determina algumas propriedades Mas, várias técnicas juntas