1. Identifique-se na parte inferior desta capa. Caso se identifique em qualquer outro local deste caderno, você será eliminado do Concurso.

1. Identifique-se na parte inferior desta capa. Caso se identifique em qualquer outro local deste caderno, você será eliminado do Concurso. 2. Este Caderno contém, respectivamente, duas questões discursivas, uma proposta de redação e trinta questões de múltipla escolha, assim distribuídas: 01 a 20 > Conhecimentos Específicos; 21 a 30 > Conhecimento Geral de Informática. Não destaque nenhuma folha. 3. Nas questões discursivas e na redação, você será avaliado exclusivamente por aquilo que escrever dentro do espaço destinado a cada resposta, não devendo, portanto, ultrapassálo. 4. Cada questão de múltipla escolha apresenta apenas uma opção de resposta correta. 5. Verifique se o caderno está completo e sem imperfeições gráficas que possam dificultar a leitura. Detectado algum problema, comunique-o, imediatamente, ao fiscal. 6. Escreva de modo legível. Dúvida gerada por grafia, sinal ou rasura implicará redução de pontos durante a correção. 7. Você dispõe de, no máximo, quatro horas para responder as questões (múltipla escolha e discursivas), elaborar, em caráter definitivo, a Redação e preencher a Folha de Respostas. 8. O preenchimento da Folha de Respostas é de sua inteira responsabilidade. 9. Antes de retirar se definitivamente da sala, devolva ao fiscal este Caderno e a Folha de Respostas. Nome (em letra de forma) Nº da Inscrição Nº da turma Assinatura

Questão Discursiva 1 Técnico de Laboratório / Microscopia Eletrônica A análise de amostras biológicas por microscopia eletrônica de varredura requer métodos apropriados de preparação para análise em alto vácuo ou a utilização de um microscópio eletrônico que opere em modo ambiental. A) Por que são necessárias rotinas especiais de preparação para a análise de amostras biológicas com o microscópio eletrônico de varredura? B) Qual o procedimento tecnicamente correto de preparação de amostras biológicas para análise em alto vácuo? C) Por que o modo ambiental permite a análise de amostras biológicas sem preparação especial? D) Qual a diferença entre os resultados obtidos a partir de uma amostra biológica em microscopia eletrônica de varredura em modo alto vácuo e em modo ambiental? Para rascunho desta questão, utilize o verso da capa. RESPOSTA UFRN Concurso Público / maio 2004 1

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Questão Discursiva 2 Técnico de Laboratório / Microscopia Eletrônica O microscópio eletrônico de varredura (MEV) funciona com base em interações que ocorrem entre um feixe de elétrons e a matéria (amostra). As radiações resultantes dessas interações são captadas, medidas e analisadas para fornecer informações acerca do material que está sendo analisado. A) Descreva a natureza da interação envolvida na geração dos dois tipos principais de elétrons utilizados para produção de imagens em um MEV e dos raios-x utilizados na microanálise química por energia dispersiva. B) Cite as principais características da análise realizada com cada um desses sinais. Para rascunho desta questão, utilize a página 2. RESPOSTA UFRN Concurso Público / maio 2004 3

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Redação Técnico de Laboratório / Microscopia Eletrônica Devido às exigências de um mundo em constantes transformações, muitas profissões tendem a desaparecer ou modificar-se. Mas também haverá aquelas que permanecerão na linha do tempo. Em seu ponto de vista, qual das profissões atuais, mais provavelmente, terá sua permanência assegurada neste século? Por quê? Para expressar seu ponto de vista sobre as questões apresentadas, produza um texto acerca do tema a profissão do futuro. Atente ainda para o fato de que seu texto deverá apresentar um título, ser coeso e coerente, estar escrito em língua culta padrão e conter, no mínimo, 20 (vinte) linhas. Não assine o texto produzido e, para rascunho, utilize a página 4. ESPAÇO DESTINADO AO TEXTO DISSERTATIVO QUE SERÁ AVALIADO Título 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 UFRN Concurso Público / maio 2004 5

14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 6 UFRN Concurso Público / maio 2004

Conhecimentos Específicos > 01 a 20 Técnico de Laboratório / Microscopia Eletrônica Para rascunho, utilize qualquer espaço em branco, a partir desta folha. 01. Um dos parâmetros de desempenho da fonte de elétrons empregada em microscópios eletrônicos de varredura (MEVs) é o brilho da imagem associado à intensidade do feixe. O FEG (field emission gun) e os filamentos de tungstênio (W) e de hexaboreto de lantânio (LaB 6 ), em função do feixe gerado por cada uma dessas fontes, apresentam brilhos distintos, seqüenciados por ordem crescente como A) LaB 6 FEG W. B) W LaB 6 FEG. C) FEG - LaB 6 W. D) W FEG - LaB 6 02. O gráfico abaixo ilustra o comportamento típico da corrente de emissão em função da corrente do filamento de tungstênio, que pode ser ajustada no microscópio eletrônico de varredura. Corrente de emissão A B C D Corrente do filamento de tungstênio Filamentos de tungstênio operam a altas temperaturas para que haja emissão de elétrons e conseqüente produção de um feixe. O ajuste da corrente do filamento de tungstênio deve garantir vida útil longa a esse componente e estabilidade do feixe, mesmo sob pequenas variações na temperatura do filamento. A fim de satisfazer essas condições, o operador deve ajustar a corrente do filamento A) para o valor A, que está situado na região do gráfico onde a corrente de emissão varia linearmente com a corrente do filamento. B) para o valor D, que garante saturação e prolongamento da vida útil do filamento. C) para o valor B, que corresponde ao pico de saturação do filamento. D) para o valor C, que corresponde ao menor valor da corrente de saturação. 03. A função do cilindro de Wehnelt, localizado em canhões de elétrons do tipo triodo, consiste essencialmente em A) acelerar os elétrons para o interior da coluna do MEV. B) emitir elétrons primários através de efeito eletrostático. C) direcionar os elétrons emitidos para dentro do canhão. D) reduzir a corrente do feixe que colide com a amostra. UFRN Concurso Público / maio 2004 7

04. A aceleração do feixe de elétrons primários que ocorre na coluna ótico-eletrônica do microscópio eletrônico de varredura é devida à existência de uma elevada diferença de potencial entre os seguintes componentes dessa coluna: A) filamento e ânodo. B) filamento e cilindro de Wehnelt. C) cilindro de Wehnelt e lente objetiva. D) ânodo e amostra. 05. A principal causa do astigmatismo, aberração originada nas lentes eletromagnéticas do microscópio eletrônico de varredura, está diretamente associada ao seguinte aspecto: A) variação da energia dos elétrons secundários. B) atuação de campo magnético não-simétrico nas lentes. C) variação da trajetória dos elétrons retroespalhados. D) reduzido diâmetro do feixe primário de elétrons. 06. Detectores de elétrons secundários do tipo Everhart-Thornley são recobertos por uma fina camada de metal (normalmente alumínio) para que um potencial atrativo, V 1, da ordem de 10 kv seja aplicado a ele. A fim de prevenir que o potencial aplicado ao detector desloque o feixe incidente ou cause astigmatismo, uma gaiola de Faraday é montada na entrada desse tipo de detector e a ela é aplicado um potencial V 2. A respeito desse potencial aplicado à gaiola de Faraday, é correto afirmar: A) V 2 é igual a -150 V, valor que corresponde à configuração padrão de eficiência máxima para coleta de elétrons secundários por detectores do tipo Everhart- Thornley. B) V 2 é igual ao potencial de aterramento para evitar sobrecarga de elétrons retroespalhados no detector, garantindo eficiência máxima de detecção de elétrons secundários. C) V 2 pode ser ajustado pelo operador dentro de uma faixa típica entre +300 V e - 150 V para selecionar a coleta ou não de elétrons secundários. D) V 2 pode ser ajustado pelo operador dentro de uma faixa típica entre 0 e +300 V para selecionar a eficiência desejada na repulsão de elétrons retroespalhados. 8 UFRN Concurso Público / maio 2004

07. Na coluna do microscópio eletrônico de varredura, apresentado esquematicamente na figura a seguir, observa-se a presença de uma lente condensadora e de uma lente objetiva. Canhão de Elétrons Lente condensadora Abertura f 2 Lente objetiva Amostra 2 Quando a distância de trabalho é manualmente aumentada pelo operador, o que ocorre com a corrente da lente objetiva e como essa alteração afeta a profundidade de foco? Considere que a intensidade da lente condensadora permanece constante. A) Redução da corrente da lente objetiva, diminuindo sua distância focal, f 2. Em conseqüência, o ângulo de convergência, 2, aumenta e a profundidade de foco diminui. B) Redução da corrente da lente objetiva, aumentando sua distância focal, f 2. Em conseqüência, o ângulo de convergência, 2, diminui e a profundidade de foco aumenta. C) Aumento da corrente da lente objetiva, ampliando sua distância focal, f 2. Em conseqüência, o ângulo de convergência, 2, aumenta e a profundidade de foco diminui. D) Aumento da corrente da lente objetiva, reduzindo sua distância focal, f 2. Em conseqüência, o ângulo de convergência, 2, aumenta e a profundidade de foco aumenta. UFRN Concurso Público / maio 2004 9

08. A figura a seguir ilustra, esquematicamente, uma coluna ótico-eletrônica de um microscópio eletrônico de varredura. Filamento Cilindro de Wehnelt Ânodo Lentes condensadoras Posição 1 Lente objetiva Amostra Posição 2 Nesse esquema, um detector de elétrons retroespalhados do tipo estado sólido deve ser colocado A) na posição 2, pois ela representa a região de maior eficiência de coleta de elétrons retroespalhados. B) na posição 1, pois ela representa a região de maior eficiência de coleta de elétrons retroespalhados e favorece a formação de imagens de contraste topográfico. C) na posição 2, pois, devido à baixa energia dos elétrons retroespalhados, o detector deve estar posicionado diretamente sobre a amostra. D) na posição 1, pois o sobrepotencial aplicado ao detector em relação ao potencial de aterramento seleciona a coleta de elétrons, eliminando ruídos eletrônicos oriundos de elétrons secundários. 09. Detectores de elétrons retroespalhados do tipo estado sólido são constituídos por dois diodos: um superior, denominado A, e outro inferior, denominado B. O tipo de contraste da imagem obtida por esse tipo de detector depende da configuração de coleta dos diodos selecionada pelo operador. A esse respeito, é correto afirmar que A) o contraste topográfico é favorecido quando a coleta é feita na configuração de diodos A+B. B) o contraste composicional é favorecido quando a coleta é feita na configuração de diodos A+B. C) o contraste composicional é favorecido quando a coleta é feita na configuração de diodos A-B. D) o contraste topográfico não pode ser obtido por detectores de elétrons retroespalhados do tipo estado sólido. 10 UFRN Concurso Público / maio 2004

10. Na figura a seguir, tem-se uma imagem de uma microestrutura obtida por meio de microscopia eletrônica de varredura. É destacada na imagem a presença das fases A, B, C e D. Fase C Fase B Fase D Fase A A respeito dessa imagem, assinale a opção que corresponde ao tipo de detector utilizado para sua obtenção e à ordem crescente correta do número atômico (Z) do elemento químico predominante das fases identificadas. A) Detector de elétrons secundários; ordem crescente de Z: A - D B - C. B) Detector de elétrons retroespalhados; ordem crescente de Z: A D B C. C) Detector de elétrons retroespalhados; ordem crescente de Z: C B D A. D) Detector de elétrons secundários; ordem crescente de Z: C B D A. 11. Deseja-se analisar, em microscópio eletrônico de varredura (MEV), a seção transversal de uma amostra cerâmica de carbeto de silício (SiC) sobre a qual se depositou um filme metálico de ouro, com cerca de 10 m de espessura conforme representação esquemática a seguir. ouro SiC O usuário necessita avaliar a morfologia das fases presentes, os contrastes composicionais, e realizar microanálise quantitativa das fases por energia dispersiva. Para esse fim, as principais etapas de preparação para a amostra são: A) corte transversal embutimento lixamento - polimento ataque químico - contato elétrico na montagem da amostra no MEV com fita de carbono. B) corte transversal embutimento lixamento - polimento recobrimento com ouro contato elétrico na montagem da amostra no MEV com tinta à base de prata. C) corte transversal embutimento - lixamento - polimento ataque químico recobrimento com carbono contato elétrico na montagem da amostra no MEV com fita de carbono. D) corte transversal embutimento - lixamento polimento recobrimento com platina contato elétrico na montagem da amostra no MEV com fita de carbono. UFRN Concurso Público / maio 2004 11

12. Para determinar-se a distribuição de tamanhos de partículas e a morfologia de um pó cerâmico por meio de microscopia eletrônica de varredura em alto-vácuo, a seqüência tecnicamente recomendada de preparação de amostra consiste em A) distribuir um volume adequado de pó em porta-amostra metálico, colocar o porta-amostra na câmara do microscópio e estabelecer contacto elétrico do pó com a câmara. B) distribuir um volume adequado de pó sobre fita de carbono de dupla face aderida ao porta-amostra metálico, recobrir o pó com filme de ouro e inserir a amostra na câmara do microscópio. C) embutir o pó em resina de cura a frio, lixar, polir e realizar ataque químico; recobrir a amostra com filme de ouro, colocar a amostra na câmara do microscópio e fazer contato elétrico da resina com o microscópio. D) embutir o pó em resina de cura a frio, polir e realizar ataque químico; colocar a amostra na câmara do microscópio e estabelecer contato elétrico da resina com o microscópio. 13. Em uma amostra contendo os elementos A e B, será realizada uma microanálise por energia dispersiva. Um parâmetro fundamental nessa análise é a tensão de aceleração do feixe primário, devendo esta ser ajustada para que uma sobrevoltagem permita a identificação dos elementos da amostra (A e B). Esse ajuste deve considerar A) a relação entre a energia do feixe primário e a maior energia de excitação dentre os elementos que compõem a amostra (A ou B). B) a diferença entre a energia de excitação K do elemento A e a energia de excitação K do elemento B. C) o fator de correção da fluorescência e o fator de correção do número atômico dos elementos A e B. D) a maior diferença entre a energia de excitação K e L para o elemento A ou para o elemento B. 14. Um pó foi analisado por microscopia eletrônica de varredura. As imagens abaixo (A e B) foram obtidas utilizando-se os parâmetros de análise detalhados nas barras de informações visualizadas nas próprias micrografias. Para ambas, foram realizados ajustes de foco e astigmatismo. Imagem A Imagem B A partir dessas imagens, é possível afirmar que 12 UFRN Concurso Público / maio 2004

A) a imagem B foi obtida com diâmetro de feixe (spot) igual ao da imagem A, estando a diferença de resolução associada à interferência de elétrons retroespalhados na imagem A. B) a imagem B foi obtida empregando-se diâmetro de feixe (spot) maior que a imagem A, permitindo melhor definição das partículas de menor tamanho. C) a imagem B foi obtida com diâmetro de feixe (spot) igual ao da imagem A, estando a diferença de resolução associada à variação da distância de trabalho entre as duas micrografias. D) a imagem B foi obtida empregando-se diâmetro de feixe (spot) menor que a imagem A, garantindo melhor definição das partículas do pó. 15. Um usuário do microscópio eletrônico de varredura está interessado em analisar a morfologia das partículas de um pó. Essas partículas possuem diâmetro médio equivalente da ordem de 100 nm, sendo, portanto, necessários aumentos acima de cem mil vezes (x 100.000). A obtenção de imagens nítidas nessa faixa de aumentos requer A) o ajuste do diâmetro do feixe para valores mais altos em relação aos utilizados para obtenção de imagens com resoluções mais baixas, a fim de que elétrons incidam em toda a área a ser analisada, sem que haja varredura. B) a retração do detector EDS para que raios-x característicos não interfiram na coleta dos elétrons retroespalhados que formarão a imagem de alta resolução. C) a retirada do detector de elétrons retroespalhados, quando instalado, para evitar colisão com o porta-amostra inclinado e posicionado em curta distância de trabalho. D) o ajuste da distância de trabalho para valores mais altos em relação aos normalmente utilizados para obtenção de imagens com resoluções mais baixas e a inclinação do porta-amostra a fim de que a varredura seja panorâmica. 16. Uma amostra metálica constituída principalmente por ferro (Z = 26), cromo (Z = 24) e níquel (Z = 28), em que Z representa o número atômico do elemento em questão, foi submetida à microanálise por energia dispersiva, resultando no gráfico abaixo. 600 [4] Intensidade 400 [2] 200 [1] [3] [5] [6] 0,0 2,0 4,0 6,0 8,0 Energia (KeV) UFRN Concurso Público / maio 2004 13

A seqüência numerada de picos (1 a 6) corresponde, respectivamente, a A) [1] Ni K - [2] Fe K - [3] Fe K - [4] Cr K - [5] Cr K - [6] Fe L. B) [1] Cr K - [2] Fe K - [3] Fe K - [4] Fe L - [5] Cr K - [6] Ni K. C) [1] Fe L - [2] Cr K - [3] Cr K - [4] Fe K - [5] Fe K - [6] Ni K. D) [1] Fe L - [2] Ni K - [3] Fe K - [4] Fe K - [5] Cr K - [6] Cr K. 17. A mesma área de uma amostra metálica foi submetida à microanálise quantitativa por energia dispersiva aplicando-se diferentes voltagens de aceleração do feixe de elétrons. Os demais parâmetros de ajuste do microscópio e do detector permaneceram constantes para as duas análises realizadas. Os resultados obtidos para cada análise encontram-se na tabela abaixo, juntamente com os fatores de correção adotados pelo método ZAF. Análise 1 Peso% Voltagem do feixe: 25,00 kv Razão de Intensidades, K Z A F Si 0,54 0,0020 1,1074 0,3348 1,0018 Cr 18,67 0,2157 0,9949 0,9842 1,1798 Mn 0,89 0,0087 0,9784 0,9940 1,0089 Fe 71,60 0,6878 0,9985 0,9512 1,0114 Ni 8,31 0,0710 1,0175 0,8398 1,0000 Total 100,00 Análise 2 Voltagem do feixe: 15,00 kv Peso% Razão de Intensidades, K Z A F Si 0,59 0,0039 1,1440 0,5716 1,0009 Cr 18,57 0,2099 0,9979 0,9940 1,1394 Mn 1,12 0,0111 0,9796 0,9978 1,0065 Fe 71,09 0,7031 0,9978 0,9826 1,0087 Ni 8,62 0,0823 1,0126 0,9432 1,0000 Total 100,00 A partir dessa tabela, é correto afirmar: A) o aumento da voltagem do feixe de 15,00 kv para 25,00 kv promoveu a redução da concentração de manganês na amostra. B) o fator de correção de fluorescência do níquel é o maior responsável pelo erro estatístico das análises. C) a análise realizada com voltagem 25,00 kv não requer a utilização dos parâmetros de correção para a obtenção da composição química. D) a diminuição da voltagem do feixe de 25,00 kv para 15,00 kv reduziu a absorção de raios-x do silício pela amostra. 14 UFRN Concurso Público / maio 2004

18. Uma amostra de titânio puro foi submetida à microanálise por energia dispersiva resultando no gráfico abaixo de intensidade de raios X em função da energia, em unidades de kev. Além dos picos correspondentes ao titânio, percebeu-se a presença de um outro pico, identificado na figura como Pico A e que, segundo informação do usuário, não corresponde a nenhuma impureza presente na amostra. Nova análise foi realizada com a mesma amostra, ajustando-se os parâmetros do microscópio de forma a reduzir a taxa de contagem durante a microanálise por energia dispersiva, verificando-se, então, que o Pico A não estava mais presente. Ti K Ti K Intensidade Pico A 3,40 3,90 4,40 4,90 5,40 5,90 6,40 6,90 7,40 7,90 8,40 8,90 9,40 Energia (kev) Com base nas informações acima, é correto afirmar que o Pico A corresponde ao A) efeito de reabsorção de raios X da amostra. B) pico soma do titânio K + K. C) pico correspondente ao titânio L. D) pico soma do titânio K. UFRN Concurso Público / maio 2004 15

19. O gráfico abaixo mostra a região, entre aproximadamente 5,0 e 8,5 kev, do espectro de uma amostra contendo cobre (número atômico 29) obtido por energia dispersiva de raios X, no qual se percebe a presença de um pico não identificado. Cu K Intensidade 5,40 6,30 7,20 8,10 Energia (kev) Em função de sua posição no gráfico, é correto atribuir esse pico ao A) pico de fluorescência interna do detector de Si-Li correspondente ao Cu K. B) pico correspondente à emissão Cu K. C) pico K de partículas de zinco (número atômico 30) presentes na forma de impurezas na região analisada da amostra. D) pico correspondente à emissão K do lítio (número atômico 3) do detector de Si- Li. 20. Na microanálise quantitativa por energia dispersiva de uma liga composta por ferro (Z = 26) e níquel (Z = 28), em que Z representa o número atômico do elemento em questão, a correção do efeito de fluorescência de raios-x A) não é necessária, pois a energia crítica de ionização do ferro é bastante diferente da energia crítica de excitação do níquel, não ocorrendo, portanto, o efeito de fluorescência. B) não é necessária, pois o número atômico do ferro é muito próximo do número atômico do níquel, não ocorrendo fluorescência significativa do ferro ou do níquel. C) é necessária, pois, sem essa correção, o pico do níquel tende a ser mais intenso do que o real, em função da fluorescência do ferro por fótons característicos provenientes do níquel. D) é necessária, pois, sem essa correção, tem-se um aumento na intensidade do pico de ferro e uma redução na intensidade do pico de níquel, em função da fluorescência do ferro por fótons característicos provenientes do níquel. 16 UFRN Concurso Público / maio 2004

Técnico de Laboratório / Microscopia Eletrônica Conhecimento Geral de Informática > 21 a 30 21. No, o aplicativo mais indicado para arquivos e pastas é o Assinale a opção que completa, corretamente e na ordem, os espaços do texto acima. A) Word, proteger, Media Player. B) Windows, compartilhar, Internet Explorer. C) Windows, gerenciar, Windows Explorer. D) Excel, personalizar, Outlook Express. 22. Considere as seguintes afirmativas, relacionadas aos elementos básicos de um sistema de computação: I II III IV V a CACHE é uma memória intermediária de alta velocidade, entre a RAM e o processador, utilizada para agilizar o processamento. A velocidade do processador (clock) é medida em MB. A memória RAM, que serve para leitura e gravação, tem conteúdo volátil. os componentes físicos do computador são chamados de hardware. teclado, mouse e impressora são periféricos de entrada. Assinale a opção cujas afirmativas são verdadeiras. A) III, IV e V. B) II, III e IV. C) I, II e III. D) I, III e IV. 23. Cada conta de e-mail tem um endereço único, que é dividido em duas partes: a primeira é usada para identificar a caixa postal de um usuário, e a segunda é usada para identificar a rede em cujo servidor reside esta caixa. Em brancadeneve@floresta.com.br, por exemplo, brancadeneve é a primeira parte e floresta.com.br é a segunda parte. Com relação às caixas de correio e endereços eletrônicos, é correto afirmar que A) o software de e-mail no servidor remetente utiliza a segunda parte para selecionar a rede de destino, e o software de e-mail da rede de destino utiliza a primeira parte para identificar a caixa postal do usuário. B) cada conta de e-mail poderá ser utilizada por vários usuários, bastando para isso que todos estejam cadastrados nessa mesma rede C) em um servidor de e-mail, apenas o e-mail da conta do administrador deverá estar associado a um endereço IP, único válido na Internet. D) a primeira parte de uma conta de e-mail é também denominada domínio, enquanto a segunda parte poderá ser chamada de Home Page. UFRN Concurso Público / maio 2004 17

24. A tabela abaixo representa os dados de uma planilha do Excel. Sabendo-se que, na célula B7, foi digitada a fórmula =SOMASE(C2:C6; PG ;B2:B6) e, em seguida, acionada a tecla Enter, e, na célula B8, foi digitada a fórmula =CONT.SE(C2:C6; PG ) e, em seguida, acionada a tecla Enter, os valores que devem aparecer nas células B7 e B8 são, respectivamente, A) 950 e 2. C) 750 e 2. B) 800 e 3. D) 650 e 3. 25. Considere as afirmativas abaixo relativas ao Excel I É possível utilizar formatação condicional para destacar informações (utilizando cores distintas, por exemplo) de acordo com os valores existentes nas células. II Para calcular a soma de valores numéricos na faixa de [A1:A10], a fórmula correta seria =soma(a1..a10) ou =soma(a1:a10). III O recurso do Excel utilizado para concatenar seqüências de caracteres é o símbolo @ (arroba). IV A criação de gráficos em Excel pode ser feita na própria planilha ou como um objeto incorporado a uma planilha. Assinale a opção cujas afirmativas são verdadeiras. A) II, III e IV. C) I, II e III. B) I, III e IV. D) I, II e IV. 26. A figura abaixo mostra ícones disponíveis na janela Impressoras do Microsoft Windows 2000, numerados de 1 a 4. 1 2 3 4 A seqüência que identifica os ícones na ordem de 1 a 4 é : A) impressora padrão, impressora local, impressão para arquivo e impressora de rede. B) impressão para arquivo, impressora de rede, impressora padrão e impressora local. C) impressora local, impressão para arquivo, impressora de rede e impressora padrão. D) impressão para arquivo, impressora padrão, impressora local e impressora de rede. 18 UFRN Concurso Público / maio 2004

27. Considerando a figura abaixo, analise as afirmativas que seguem. I O endereço de e-mail da UFRN é: www.ufrn.br II Os quatro botões da barra de ferramentas (que se encontram no mesmo alinhamento da caixa de texto onde está o endereço http://www.ufrn.br/) indicam, respectivamente, voltar uma página, avançar uma página, recarregar a página atual e parar carregamento da página atual. III Como o botão está desabilitado, isso indica que a página atual foi totalmente carregada ou teve seu carregamento cancelado. IV Se clicarmos no triângulo inferior direito do botão, obteremos uma listagem de todos os sites acessados nas sessões anteriores. Assinale a opção cujas afirmativas são verdadeiras. A) II e IV. C) I e IV. B) II e III. D) III e IV. 28. Analise as seguintes afirmativas sobre o Word. I Estilo é o conjunto de características de formatação que podem ser aplicadas ao texto de um documento para alterar sua aparência. II Uma tabela é composta de linhas e colunas (de células) que podem ser preenchidas com texto e elementos gráficos. III Através da opção Cabeçalho e Rodapé do menu Exibir, é possível inserir a data em todas as folhas de um documento. IV A opção Marcadores e Numeração do menu Formatar serve para numerar páginas de um documento. Assinale a opção cujas afirmativas são verdadeiras. A) II, III e IV.. C) I, II e III B) I, III e IV. D) I, II e IV. UFRN Concurso Público / maio 2004 19

29. Analise as seguintes afirmativas referentes aos recursos do MS Word. I II III IV V É possível converter um texto em uma tabela. A opção Contar Palavras do menu Ferramentas serve apenas para contar o número de palavras de um documento. Mantendo-se a tecla CTRL pressionada enquanto se clica com o botão esquerdo do mouse sobre uma palavra de uma frase, seleciona-se apenas a palavra. Pode-se copiar ou colar o formato de uma palavra para outra usando-se teclas de atalho. Após a colocação de cabeçalho e rodapé em um documento, é possível abrir a área de edição do cabeçalho ou rodapé, com um clique duplo sobre qualquer um deles. Assinale a opção cujas afirmativas são verdadeiras. A) I, IV e V. B) I, III e V. C) II, III e IV. D) II, IV e V. 30. Para localizar informações na internet, existem serviços especializados em coletar e disponibilizar referências a endereços que contenham um conjunto de palavras-chave normalmente solicitadas pelos usuários. Esses serviços recebem a denominação de A) mecanismos de busca. B) download de arquivos. C) upload de arquivos. D) serviços de acessos remotos. 20 UFRN Concurso Público / maio 2004

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