Teste de Interconexões: Fundamentos

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Raphaella Pinheiro Braga
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1 Teste de Interconexões: Fundamentos Marcelo Lubaszewski Sumário 1 Modelo de falhas 2 Sequência para detecção 3 Sequências para diagnóstico 4 Diagnóstico em dois passos 5 Referências bibliográficas

2 1 - Modelo de falhas Colagem lógica (stuck-at) Curto-circuito (short): o efeito depende da impedância de saída, do número de saídas curto-circuitadas Wired-or Wired-and Strong driver Circuito-aberto (open): TTL, BiCMOS: equivalente a colagem em 1 ECL: equivalente a colagem em 0 CMOS, HCMOS: valor resultante é aleatório

3 2 Sequência para detecção Stuck-ats: Vi com pelo menos um 0 e um 1 V1 V2 V3 V4 V5 V6 V1 V2 V3 V4 V5 V6

4 2 Sequência para detecção Stuck-ats: Vi com pelo menos um 0 e um

5 2 Sequência para detecção Stuck-ats: Vi com pelo menos um 0 e um 1 Opens: mesmo que para stuck-at

6 2 Sequência para detecção Stuck-ats: Vi com pelo menos um 0 e um 1 Opens: mesmo que para stuck-at Shorts: vetores distintos para cada fio V1 V2 V3 V4 V5 V6 V1 V2 V3 V4 V5 V6 V1 V2 V3 V4 V5 V6

7 2 Sequência para detecção Stuck-ats: Vi com pelo menos um 0 e um 1 Opens: mesmo que para stuck-at Shorts: vetores distintos para cada fio Contagem binária excluindo tudo-0 e tudo

8 2 Sequência para detecção Stuck-ats: Vi com pelo menos um 0 e um 1 Opens: mesmo que para stuck-at Shorts: vetores distintos para cada fio Hipótese wired-and

9 2 Sequência para detecção Stuck-ats: Vi com pelo menos um 0 e um 1 Opens: mesmo que para stuck-at Shorts: vetores distintos para cada fio 3-4 short ou 3 e 4 stuck-at-0????

10 2 Sequência para detecção Stuck-ats: Vi com pelo menos um 0 e um 1 Opens: mesmo que para stuck-at Shorts: vetores distintos para cada fio 3-6 short ou short???

11 2 Sequência para detecção Stuck-ats: Vi com pelo menos um 0 e um 1 Opens: mesmo que para stuck-at Shorts: vetores distintos para cada fio síndrome do aliasing

12 3 Sequência para diagnóstico Stuck-ats, opens e shorts Contagem binária complementar

13 3 Sequência para diagnóstico Stuck-ats, opens e shorts Contagem binária complementar 3-4 short!!!

14 3 Sequência para diagnóstico Stuck-ats, opens e shorts Contagem binária complementar sem aliasing!!! mas 3-6 short ou 3 e 6 stuck-at-0???

15 3 Sequência para diagnóstico Stuck-ats, opens e shorts Contagem binária complementar 2-3 e 1-4 short ou short???

16 3 Sequência para diagnóstico Stuck-ats, opens e shorts Contagem binária complementar síndrome da confusão

17 3 Sequência para diagnóstico Stuck-ats, opens e shorts 0 caminhando

18 3 Sequência para diagnóstico Stuck-ats, opens e shorts 0 caminhando 2-3 e 1-4 short!!!

19 3 Sequência para diagnóstico Stuck-ats, opens e shorts 0 caminhando short ou 1, 2, 3, 4, 5 e 6 stuck-at-0???

20 3 Sequência para diagnóstico Stuck-ats, opens e shorts 0 caminhando + tudo short!!!

21 3 Sequência para diagnóstico Stuck-ats, opens e shorts Sequência universal: wired-and + wired-or

22 3 Sequência para diagnóstico Stuck-ats, opens e shorts Sequência universal: wired-and + wired-or Diagnóstico máximo, exceto falhas não diagnosticáveis antes de uma reparação:

23 4 Diagnóstico em dois passos Detecção: Contagem binária sem tudo-0 e tudo-1: log 2 (n+2) Diagnóstico sem síndrome do aliasing: Contagem binária complementar: 2 x log 2 n, n>1 Diagnóstico máximo: Sequência universal: 2 x (n+1) #Conexões Binária Complementar Universal

24 4 Diagnóstico em dois passos Duas sequências de teste (adaptativo): Detecção das conexões suspeitas: contagem binária log 2 (n+2) Diagnóstico entre as conexões suspeitas: universal 2 x (s+1) n s Universal 2 passos

25 5 Referências bibliográfica [Kau 74] W.Kautz, Testing for Faults in Wiring Networks. IEEE Transactions on Computers, Vol. C-23, No. 4, April 1974, [JaY 89] N. Jarwala and C. Yau, A New Framework for Analysing Test Generation and Diagnosis Algorithms for Wiring Interconnects, International Conference, 1989, [Wag 87] P. Wagner, Interconnect Testing with Boundary Scan, International Test Conference, 1987, [CLW 90] W.-T. Cheng, J.L. Lewandowski and E. Wu, Diagnosis for Wiring Networks, International Test Conference, 1990, [YaJ 89] C.W. Yau and N. Jarwala, A Unified Theory for Designing Optimal Test Generation and Diagnosis Algorithms for Board Interconnects, International Test Conference, 1989, [HRA 88] A.Hassan, J. Rajski and V.K. Agarwal, Testing and Diagnosis of Interconnects using Boundary Scan Architecture, International Test Conference, 1988, [LiB91] J.-C. Lien and M.A. Breuer, Maximal Diagnosis for Wiring Networks, International Test Conference, 1991, [TuY 89] R.E. Tulloss and C.W.Yau, BIST and Boundary Scan for Board Level Test: Test Program Pseudocode, European Test Conference, 1989, [GoM 82] P. Goel and M. McMahon, Electronic Chip-in-Place Test, International Test Conference, 1982,

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