LABORATÓRIO DE MICROSCOPIA ELETRÔNICA

Transcrição

1 LABORATÓRIO DE MICROSCOPIA ELETRÔNICA EQUIPAMENTO MULTISUÁRIO MICROSCÓPIO ELETRÔNICO DE VARREDURA - UFF 1) Formato do curso de Habilitação no MEV Número máximo de alunos por turma Turma de Alunos e Bolsistas de Pós-doutorado: 10 Turma de Professores e Técnicos: 5 1ª Parte do Curso: (i) 4 horas de aulas teóricas princípio de formação de imagens e comparação entre as análises por microscopia ótica, eletrônica de varredura e de transmissão; partes principais de um microscópio eletrônico de varredura; interação do feixe com matéria associado os distintos sinais gerais e seus respectivos detectores; tipos de filamentos, suas características e ajustes mecânicos, eletrônicos e óticos; efeitos das características químicas das amostras, parâmetros do feixe (tensão de aceleração, spot size, aberturas) e distância de trabalho nas análises; e características de análises e amostras em função da pressão da câmara. (ii) 4 horas para apresentação do equipamento e suas funcionalidades detectores existentes no MEV/UFF (SE, BSE, VPSE, EBSD e EDS); câmara de amostras e porta amostras, câmera de infravermelho, e associação dos movimentos do Porta- Amostra e posições relativas dos detectores em função da dimensão da amostra a ser analisada; e deposição de ouro na superfície de amostras não condutoras; (iii) 16 horas de aulas prática com apresentação funcional e operacional do equipamento para análises com os detectores de elétrons secundários (SE) e de elétrons retroespalhados (BSE) na condição de alto vácuo. Com exemplos de análises de amostras condutoras e não condutoras (com e sem deposição de ouro) nesta etapa o(a) instrutor(a) do curso irá apresentar um grupo de procedimentos e posteriormente cada um dos alunos irá repeti-los, contando com a orientação de como proceder e a observação/comentários sobre as ações tomadas: a. 4 horas: exemplos com uso do detector de SE em pequenos aumentos (até 1000x) com ajustes do foco, brilho/contraste, diferentes aumentos (mínimo para análise e máximo de 1000x), eliminação de correntes parasitas, alterações na tensão de análise e alinhamento do feixe, mudanças na distância de trabalho ( work distance WD ) e no spot size (diâmetro do feixe), e analises nos modos Resolution, Analysis e Deep - acompanhado de processos que visualizar as imagens com distintas velocidades de varreduras e posterior arquivamento digital; b. 4 horas: exemplos com uso do detector de SE em grandes aumentos (limite em função da amostra em análise) com ajustes do foco, brilho/contraste, 1

2 diferentes aumentos (mínimo para análise e máximo em função da amostra em análise), eliminação de correntes parasitas, alterações na tensão de analise e alinhamento do feixe, mudanças na distância de trabalho ( work distance WD ) e no spot size (diâmetro do feixe), astigmatismo na imagem, ajustes do focus woble e análises nos modos Resolution, Analysis e Deep - acompanhado de processos que visualizar as imagens com distintas velocidades de varreduras e posterior arquivamento digital e uso de ferramentas para documentação das imagens e analises de natureza dimensional; c. 4 horas: exemplos com uso do detector de BSE em pequenos e grandes aumentos com ajustes do foco, brilho/contraste (ganho), ativação/desativação dos canais (diodos) do detector, diferentes aumentos (mínimo para análise e máximo em função da amostra em análise), eliminação de correntes parasitas, alterações na tensão de análise e alinhamento do feixe, mudanças na distância de trabalho ( work distance WD ) e no spot size (diâmetro do feixe), astigmatismo na imagem, ajustes do focus woble e análises nos modos Resolution, Analysis e Deep - acompanhado de processos que visualizar as imagens com distintas velocidades de varreduras e posterior arquivamento digital e uso de ferramentas para documentação das imagens e análises de natureza dimensional; d. 4 horas: exemplos com uso combinado dos detectores de SE e BSE em pequenos e grandes aumentos com ajustes do foco, brilho/contraste (ganho), ativação/desativação dos canais (diodos) do detector, diferentes aumentos (mínimo para análise e máximo em função da amostra em análise), eliminação de correntes parasitas, alterações na tensão de análise e alinhamento do feixe, mudanças na distância de trabalho ( work distance WD ) e no spot size (diâmetro do feixe), astigmatismo na imagem, ajustes do focus woble e analises nos modos Resolution, Analysis e Deep - acompanhado de processos que visualizar as imagens com distintas velocidades de varreduras e posterior arquivamento digital e uso de ferramentas para documentação das imagens e analises de natureza dimensional. 2ª Parte: mínimo de 16 horas de operação supervisionada a fim de adquirir habilidade na operação do equipamento nos quesitos de qualidade das análises resultantes e segurança operacional. Ao fim dessas horas o aluno irá solicitar avaliação funcional da sua habilidade por meio de operação supervisionada pelo(a) coordenador(a) técnico(a) do Equipamento Multiusuário Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV). 2

3 2) Critérios para Seleção de Candidatos para Curso de Habilitação no MEV 2.1) Turma de Alunos e Bolsista de Pós-doutorado a- Número máximo de 10 alunos por turma; b- Pós-doutorando, doutorando, mestrando, graduando associado a projeto de Iniciação Científica ou Tecnológica, vinculados a UFF e a projetos de pesquisa de professor/pesquisador vinculado a um dos departamentos de ensino da UFF; c- Ser indicado por professor/pesquisador com projeto de pesquisa que demande análises no MEV, e fazer parte da equipe integrante deste projeto de pesquisa; d- no caso de alunos de graduação, pós-graduação e doutores em projetos de pós-doutorado, a previsão de conclusão da parte do projeto a que estão vinculados deverá ser até a data máxima prevista para conclusão da 2ª parte do curso de MEV. Este critério visa que novos usuários habilitados possam contribuir na execução de análises por meio de demanda oriunda de usuários não habilitados, e/ou contribuir na formação de novos usuários em treinamento (caso tenham perfil e pré-disposição para este fim); e- no caso do número de candidatos ao curso ser superior ao número máximo de alunos por turma (10 alunos), serão aplicados os seguintes critérios com o intuito de beneficiar homogeneamente a comunidade acadêmica da UFF: Não ter sido privilegiado em curso de anterior, em termos de um determinado projeto de pesquisa associado a um professor/pesquisador que indicou o candidato. E que não existam usuários habilitados vinculados a este projeto de pesquisa em questão, em decurso de uma atual operação do MEV; 1 vaga por indicação de professor/pesquisador associado a um determinado projeto de pesquisa; Vínculo UFF na seguinte ordem: doutorando, pós-doutorando, mestrando, graduando vinculado a projeto de iniciação científica ou tecnológica; Casos que não foram previstos nos critérios acima serão avaliados pela coordenação técnica, com base na definição do Comitê Gestor datada de 22 de Junho de Caso o número de candidatos inscritos e selecionados seja inferior 10, poderão fazer parte desta turma professores e/ou técnicos tanto que estejam associados a projetos de pesquisas que justifiquem o uso do MEV. 3

4 2.2) Turma de Professores e Técnicos - Número máximo de 5 participantes por turma; - Professor/Pesquisador e técnico, vinculados a UFF e a projetos de pesquisa de professor/pesquisador vinculado a um dos departamentos de ensino da UFF; - Ser indicado por professor/pesquisador com projeto de pesquisa que demande análises no MEV, e fazer parte da equipe integrante deste projeto de pesquisa. Neste caso podendo o candidato auto-indicar-se; - no caso do número de candidatos ao curso ser superior ao número máximo de participantes por turma (5 participantes), serão aplicados os seguintes critérios com o intuito de beneficiar homogeneamente a comunidade acadêmica da UFF: Não ter sido privilegiado em curso de anterior, em termos de um determinado projeto de pesquisa associado a um professor/pesquisador que indicou o candidato. E que não existam usuários habilitados vinculados a este projeto de pesquisa em questão, em decurso de uma atual operação do MEV; 1 vaga por indicação de professor/pesquisador associado a um determinado projeto de pesquisa; Vínculo UFF na seguinte ordem: professor/pesquisador, técnico; Casos que não foram previstos nos critérios acima serão avaliados pela coordenação técnica, com base na definição do Comitê Gestor datada de 22 de Junho de Caso o número de candidatos inscritos e selecionados seja inferior 5, poderão fazer parte desta turma alunos ou bolsistas de pós-dourorado tanto que estejam associados a projetos de pesquisas que justifiquem o uso do MEV. 4

5 3) Agenda do Ano de 2012 para Curso de Habilitação no MEV 3.1) Primeira Turma Turma Alunos e Bolsista Pós-doutorado: o 1ª Parte: 26, 27 e 28 de Julho de2012 com 8 horas de aula por dia. o 2ª Parte: de 30 de Julho a 30 de Novembro de 2012 em horários agendados com base no horário de expediente semanal do técnico do Equipamento Multiusuário MEV, e/ou com acompanhamento sob a responsabilidade de um dos usuários habilitados. O usuário habilitado que se predispor a acompanhar um novo usuário em processo de treinamento, deverá assinar um termo de responsabilidade no qual indica a ciência que deverá estar presente na sala do MEV durante todo o período no qual o usuário em treinamento estiver operando o equipamento (principalmente nas primeiras horas da 2ª Parte do curso), e que quaisquer operações inadvertidas do usuário em treinamento serão de sua responsabilidade. Visto que como tutor (usuário habilitado) deverá instruir o usuário em treinamento quanto as formas corretas para obter melhores resultados o equipamento, bem como impedir que o usuário em treinamento haja de maneira que possa promover condições inseguras para o MEV. Turma Professores e Técnicos o Nesta primeira turma serão destinados aqueles professores que não concluíram a parte das aulas práticas supervisionadas dos cursos de habilitação de 2009 e Data e horário de aula de nivelamento a combinar com os interessados. Conforme Requerimento MEV nº 08/2012 encaminhado para professores que se enquadram nesta condição. 3.2) Segunda Turma Turma Alunos e Bolsista Pós-doutorado: o 1ª Parte: 13, 14 e 15 de Dezembro de 2012 com 8 horas de aula por dia. o 2ª Parte: de 17 de Dezembro de 2012 a 29 de Marco de 2013 em horários agendados com base no horário de expediente semanal do técnico do Equipamento Multiusuário MEV, e/ou com acompanhamento sob a responsabilidade de um dos usuários habilitados. O usuário habilitado que se predispor a acompanhar um novo usuário em processo de treinamento, deverá assinar um termo de responsabilidade no qual indica a ciência que deverá estar presente na sala do MEV durante todo o período no qual o usuário em treinamento estiver operando o equipamento (principalmente nas primeiras horas da 2ª Parte do curso), e que quaisquer operações inadvertidas do usuário em treinamento serão de sua responsabilidade. Visto que como tutor (usuário habilitado) deverá instruir o usuário em treinamento quanto as formas corretas para obter melhores resultados o equipamento, bem como impedir que o usuário em treinamento haja de maneira que possa promover condições inseguras para o MEV. 5

6 Turma Professores e Técnicos o Data e horário das aulas teóricas e práticas a combinar com os interessados. o Formato similar ao curso dos alunos e bolsistas de pós-doutorado. Docência: Nas turmas citadas acima, a atual Coordenadora Técnica do Equipamento Multiusuário MEV, se disponibiliza para ministrar as referidas aulas teóricas e práticas. Mas não é nenhum fator impeditivo (conforme consenso do Comitê Gestor) que professores/pesquisadores, devidamente habilitados na operação do MEV da UFF, possam a ministrar o curso de Habilitação no MEV para futuras turmas. Tão somente é necessário o desejo em fazê-lo, associada a comunicação e agendamento junto a Coordenação Técnica, de forma zelar pelo uso e organização do Laboratório de Microscopia Eletrônica e Equipamento Multiusuário MEV. 6

7 4) Curso de habilitação de usuários nos detectores de VPSE, EDS e EBSD do MEV Todo usuário habilitado no MEV/UFF terá direito de participação em curso de habilitação para operação e realização de análises nos detectores de VPSE, EDS e EBSD. Esta participação deve ser feita a partir de indicação por intermédio de um professor/pesquisador com projeto de pesquisa vinculado a UFF e que tenha justificativa de uso de um ou mais dos detectores. Ou do desejo formalizado do usuário habilitado no MEV/UFF em contribuir na operação do equipamento associada a estes detectores, no que tange as solicitações de análise de usuários não habilitados. A habilitação em um desses detectores não poderá ocorrer em período paralelo de tempo. A habilitação para análise combinada com os detectores de EDS e de EBSD, só poderá ser ministrada para usuários habilitados no MEV/UFF e em ambos os detectores (EDS e EBSD). Todo usuário habilitado no MEV/UFF e nos detectores de VPSE, EDS e/ou EBSD, na condição de professor/pesquisador com vínculo UFF, terá direito de ministrar curso no sentido de habilitar novos usuários no detector para qual é habilitado. Este processo deverá ocorrer por meio de solicitação a ser encaminhada a coordenação técnica do Equipamento Multiusuário MEV, com o intuito de indicar o(s) usuário(s) habilitado(s) no MEV/UFF a ser(em) treinado(s), alocar dias/horários para o treinamento básico na operação do MEV associado ao detector VPSE, EDS ou de EBSD, e operacionais do software do MEV as condições de Pressão Variável, e do software do EDS ou do EBSD. Bem como posteriormente encaminhar a coordenação técnica o registro de treinamento básico, posterior acompanhamento supervisionado e data da habilitação deste(s) novo(s) usuário(s) (nos detectores de VPSE, EDS ou EBSD) quanto a sua capacidade operacional autônoma com base no atestamento do usuário habilitado que ministrou o treinamento em questão. Toda esta sistemática tem por finalidade garantir o registro das atividades e treinamentos executados no Laboratório de Microscopia Eletrônica associadas ao Equipamento Multiusuário Microscópio Eletrônico de Varredura. A habilitação de usuários ao MEV e nos detectores VPSE, EDS e EBSD, visa à formação de recursos humanos capacitados para tal fim e o desenvolvimento acadêmico/científica da UFF. Os usuários habilitados poderão realizar as caracterizações pertinentes ao(s) projeto(s) de pesquisa(s) que está(ão) vinculado(s) (projeto(s) devidamente cadastrado no Laboratório de Microscopia Eletrônica, onde está instalado o Equipamento Multiusuário Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV). Bem como sempre que possível (de acordo com sua disponibilidade) contribuir operando o MEV nas solicitações de análises ou de aulas demonstrativas (ou similares) oriundas de usuários não habilitados. Onde todas estas solicitações devem estar vinculadas a projetos de pesquisa cadastrados no referido laboratório, ou por solicitação de análise ou aulas demonstrativas. 7