Processos Avançados de Microeletrônica. Litografia. Aula4

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Transcrição:

Processos Avançados de Microeletrônica Litografia Aula4 Prof. Dr. Antonio Carlos Seabra Dep. Eng. de Sistemas Eletrônicos Escola Politécnica da USP acseabra@lsi.usp.br CAD Nanotecnologia Máscara(s) Escrita Direta Nanocarimbos Técnicas de Litografia Óptica Litografia por Raios-X Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 2 1

oje CAD Nanotecnologia Máscara(s) Escrita Direta Nanocarimbos Técnicas de Litografia Óptica Litografia por Raios-X Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 3 Litografia Top-Down Litografia Top-Down para Nanotecnologia Litografia FE, FI, RX, olografia Processo Lift-off (com e sem sombreamento) Processos de Máscara Embutida Nanoimpressão Varredura por Sonda Processamento Litográfico Aplicações Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 4 2

Lift-off Processo Tradicional Deposições de metal e resiste resiste metal Deposições Escrita Direta Lift-off resiste 2 resiste 1 resiste 2 resiste 1 do resiste resiste metal Revelação 1 resiste 2 resiste 1 Revelação do resiste metal Revelação 2 resiste 2 resiste 1 Úmida Corrosão metal Seca metal metal Lift-off Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 5 Processos de Máscara Embutida (BIM) Sililação resiste 2 Escrita Direta resiste 2 Sililação MDS resiste 2 Revelação Seca resiste 2 Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 6 3

Nanoimpressão (nanocarimbos) Nanoimpressão é um tipo de impressão por contato onde as geometrias são geradas por deformação/transformação física ao invés de reações fotoquímicas Potencial Produtividade Resolução Dificuldades Defeitos Pouca capacidade de alinhamento Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 7 Nanoimpressão por Microcontato ( CP) Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 8 4

Nanoimpressão por Microcontato ( CP) Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 9 Nanoimpressão por Microcontato ( CP) Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 10 5

Litografia por Nanoimpressão (NIL) Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 11 Resultados por Nanoimpressão (NIL) Linhas de 50nm Estruturas 3D Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 12 6

Litografia de Impressão por Passo e (SFIL) Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 13 Nanoimpressão (SFIL) SFIL (Resnick, 2003) Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 14 7

As três Técnicas Principais de Nanoimpressão Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 15 Equipamentos comerciais para nanoimpressão Molecular Imprints Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 16 8

Litografia por Varredura de Sonda AFM, STM Arraste Pinçagem Dip-pen (Mirkin, 1999) (Eigler, 1990) Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 17 Litografia por Varredura de Sonda Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 18 9

No Brasil Litografia por Feixe de Elétrons Cenpra (feixe gaussiano, ~100nm, escrita direta?) CCS-UNICAMP (feixe moldado, ~300nm) olografia Profa. Lucila Cescatto (IFGW-Unicamp) Microscópio Eletrônicos de Varredura Adaptados USP DEMA-UFSC UFMG UFPE Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 19 Litografia Top-Down Litografia na Indústria de CIs Litografia Óptica Litografia por Raios-X Litografia Top-Down para Nanotecnologia Preparação das amostras Recomendações Aplicações Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 20 10

Até agora CAD Nanotecnologia Máscara(s) Escrita Direta Nanocarimbos Técnicas de Litografia Óptica Litografia por Raios-X Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 21 Processamento Litográfico Limpeza do Substrato de Desidratação Promotor de Aderência Espalhamento do Resiste Pré-Aque cimento Esfoliação Por Plasma Revelação Pós-exposição Corrosão de Estabilização (Lift-off) Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 22 11

Limpeza do Substrato Lâmina nova: álcool isopropílico 5min@ 80 C Se não, Inpeção do em microscópio óptico Remoção de óxido nativo (p.ex. BOE 5s para Si) Limpeza com solventes: Acetona PA 5min@ 80 C + Álcool isopropílico 5min@ 80 C Se já foi processada com resiste Remoção do resiste (Removedor apropriado / plasma de O 2 ) Acetona PA 5min@ 80 C + Álcool isopropílico 5min@ 80 C Inspeção do em microscópio óptico Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 23 Processamento Litográfico Limpeza do Substrato de Desidratação Promotor de Aderência Espalhamento do Resiste Pré-Aque cimento Esfoliação Por Plasma Revelação Pós-exposição Corrosão de Estabilização (Lift-off) Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 24 12

de Desidratação (Dehydration Bake) Substrato adsorve Água facilmente 2 O O O O O Estufa (Oven) O O O O O 10min@ 200 C Placa Quente (ot Plate) 30min@ 200 C Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 25 Processamento Litográfico Limpeza do Substrato de Desidratação Promotor de Aderência Espalhamento do Resiste Pré-Aque cimento Esfoliação Por Plasma Revelação Pós-exposição Corrosão de Estabilização (Lift-off) Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 26 13

Promotor de Aderência (Adhesion Promoter) O MDS é muito utilizado para Si Ele pode ser aplicado: Na forma líquida, diluído em solvente (20% MDS em PGMEA), sobre uma superfície desidratada, por spinning a frio (10~20s @1500rpm), imediatamente antes de de aplicar o resiste. Na forma de vapor, em uma estufa (~ 35min@ 150 C), na forma pura. Esta forma é muito mais eficiente. Cuidado: dependendo da superfície, o tratamento pode variar Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 27 Promotor de Aderência Substrato oxida facilmente O O Aplicação de MDS (exametildisilazana) C 3 C 3 2 O C 3 Si C3 N Si C 3 C 3 O O O C 3 2 O C 3 C 3 Si O + C3 N Si C 3 + 2 O C 3 Substrato oxida facilmente O O O O O O N C 3 C 3 Si C 3 O Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 28 14

Processamento Litográfico Limpeza do Substrato de Desidratação Promotor de Aderência Espalhamento do Resiste Pré-Aque cimento Esfoliação Por Plasma Revelação Pós-exposição Corrosão de Estabilização (Lift-off) Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 29 Espalhamento do Resiste (spinning) Seguir recomendação do fabricante, em geral na rotação adequada por 30 segundos A física de espalhamento do resiste é complicada e depende fortemente da taxa de evaporação do solvente utilizado. Por isso os fabricantes preferem utilizar sempre os mesmos solventes Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 30 15

Espalhamento do Resiste (spinning) Amostras com diâmetros menores que 10mm não permitem uma cobertura uniforme com resiste. Em GaAs isso é um problema Se possível evitar amostras pequenas Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 31 Processamento Litográfico Limpeza do Substrato de Desidratação Promotor de Aderência Espalhamento do Resiste Pré-Aque cimento Esfoliação Por Plasma Revelação Pós-exposição Corrosão de Estabilização (Lift-off) Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 32 16

pré-exposição (prebake ou softbake) Utilizado para evaporar eficientemente o solvente do resiste. Consulte o fabricante sobre as condições adequadas, mas tipicamente é realizado por 1min@ 90 C em placa quente ou 30min@ 90 C em estufa. Resistes espessos (> 5 m) requerem que a lâmina volte à temperatura ambiente de forma lenta, preferencialmente sobre a placa quente, para evitar rachaduras no resiste Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 33 Processamento Litográfico Limpeza do Substrato de Desidratação Promotor de Aderência Espalhamento do Resiste Pré-Aque cimento Esfoliação Por Plasma Revelação Pós-exposição Corrosão de Estabilização (Lift-off) Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 34 17

pós-exposição (post-exposure bake, PEB) Empregado para reduzir fenômenos de ondas estacionárias no resiste: Empregado para ativar reações químicas em resistes p/ DUV (248nm e abaixo) Muito utilizados em LFE Resistes mais convencionais (PMMA, AZ, não necessitam desta etapa) Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 35 Processamento Litográfico Limpeza do Substrato de Desidratação Promotor de Aderência Espalhamento do Resiste Pré-Aque cimento Esfoliação Por Plasma Revelação Pós-exposição Corrosão de Estabilização (Lift-off) Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 36 18

Revelação Quando adquirir o resiste, adquira também o revelador apropriado Solução alcalina. Soluções simples como NaO (Shipley 351) ou KO (AZ400K) podem ser utilizadas, mas devido à contaminação de dispositivos CMOS por íons móveis, reveladores MIF (isentos de íons metálicos) são utilizados. São em geral baseados em TMA (MF312, 300-MIF) e podem conter surfactantes Cada revelador utiliza uma diluição própria para o resiste de escolha. Podem ser trocados até certo ponto mas convém acompanhar cuidadosamente alterações introduzidas no processo Muitos reveladores corroem alumínio Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 37 Processamento Litográfico Limpeza do Substrato de Desidratação Promotor de Aderência Espalhamento do Resiste Pré-Aque cimento Esfoliação Por Plasma Revelação Pós-exposição Corrosão de Estabilização (Lift-off) Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 38 19

Esfoliação por Plasma (Plasma Flash) Plasma de O 2, 5s Antes Depois Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 39 Processamento Litográfico Limpeza do Substrato de Desidratação Promotor de Aderência Espalhamento do Resiste Pré-Aque cimento Esfoliação Por Plasma Revelação Pós-exposição Corrosão de Estabilização (Lift-off) Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 40 20

de Estabilização (hard-bake) Em geral utilizado para melhorar a resistência ao processo de corrosão (por plasma) posterior. Siga as recomendações do fabricante Prof. A.C. Seabra Processos Avançados de Microeletrônica 2015 41 21