Descrição: Azulejo hispano-mourisco. Dimensões: 38 x 40 x 23 mm Amostras: Azulejo e uma secção polida em depósito no Museu Nacional do Azulejo em Lisboa.
Índice racterização Morfológica Imagens de microscopia ótica (OM) Imagens de microscopia electrónica (SEM) racterização Química/Mineralógica Análise por SEM/EDS Análise por XRF
racterização Morfológica: IMAGENS DE MICROSCOPIA ÓTICA Equipamento: Lupa binocular Leica M205 C com câmara acoplada Leica DFC295.
racterização Morfológica: IMAGENS DE SEM Equipamento: Microscópio eletrónico de varrimento HITACHI 3700N acoplado a um espectrómetro de energia dispersiva de raios-x Bruker Xflash 50.
racterização Morfológica: IMAGENS DE SEM Equipamento: Microscópio eletrónico de varrimento HITACHI 3700N acoplado a um espectrómetro de energia dispersiva de raios-x Bruker Xflash 50.
racterização Química: ANÁLISE POR SEM/EDS Na Mg Al Si P K Ti V Fe Equipamento: Microscópio eletrónico de varrimento HITACHI 3700N acoplado a um espectrómetro de energia dispersiva de raios-x Bruker Xflash 50.
racterização Química: ANÁLISE POR SEM/EDS 2 cps VIDRADO BRANCO K Fe Si O Mg Na Al Si K Fe - -2 0 5 5 _EDS_Vidrado.xls Equipamento: Microscópio eletrónico de varrimento HITACHI 3700N acoplado a um espectrómetro de energia dispersiva de raios-x Bruker Xflash 50.
racterização Química: ANÁLISE POR SEM/EDS cps CHACOTA - Ti K Fe Si O Mg Na Al Si K Ti Fe -2-3 0 5 5 _EDS_Chacota.xls Equipamento: Microscópio eletrónico de varrimento HITACHI 3700N acoplado a um espectrómetro de energia dispersiva de raios-x Bruker Xflash 50.
racterização Química: ANÁLISE POR SEM/EDS cps CHACOTA - INCLUSÃO - K Fe Si O Mg Na Al Si K Fe -2-3 0 5 5 _EDS_Inclusão.xls Equipamento: Microscópio eletrónico de varrimento HITACHI 3700N acoplado a um espectrómetro de energia dispersiva de raios-x Bruker Xflash 50.
racterização Química: ANÁLISE POR SEM/EDS cps CHACOTA - INCLUSÃO - Ti K V Fe Si O Mg Na Al Si K Ti V Fe -2-3 0 5 5 _EDS_Inclusão2.xls Equipamento: Microscópio eletrónico de varrimento HITACHI 3700N acoplado a um espectrómetro de energia dispersiva de raios-x Bruker Xflash 50.
AzuRe02 racterização Química: ANÁLISE POR SEM/EDS Composição química (% m/m)* Área Analisada Na Mg Al Si K Ti V Fe vidrado branco 2,66 0,76,48 9,67,7 3,57 -- --,5 5,20 53,44 chacota 2,89 3,82,48 3,8 3,09 27,36 0,99 -- 6,78 -- 2,79 chacota inclusão 2,82 2,7 3,07 5,68 0,58 3,84 -- -- 68,43 -- 2,79 chacota inclusão 0,42,09 5,7,25,20 7,75 0,32 5,22 4,30 -- 54,27 * - Os valores apresentados na tabela correspondem às percentagens mássicas dos elementos detetados na amostra, não considerando o teor de oxigénio e normalizados a 0% (ver aviso). Equipamento: Microscópio eletrónico de varrimento HITACHI 3700N acoplado a um espectrómetro de energia dispersiva de raios-x Bruker Xflash 50.
racterização Química: ANÁLISE POR XRF cps VIDRADO BRANCO 3 2 Zn u Si Al P Ti Mn Fe Ni Cu Zn - 5 5 20 25 30 _XRF_Branco.csv Equipamento: Espectrómetro portátil por fluorescência de raios-x Bruker Tracer III-SD.
racterização Química: ANÁLISE POR XRF 4 cps VIDRADO AZUL 3 2 Zn u Si Al P Ti Mn Fe Co Ni Cu Zn 5 5 20 25 30 _XRF_Azul.csv Equipamento: Espectrómetro portátil por fluorescência de raios-x Bruker Tracer III-SD.
racterização Química: ANÁLISE POR XRF cps VIDRADO AMARELO 3 2 u Zn Si Al P K Ti Fe Ni Cu Zn - 5 5 20 25 30 _XRF_Amarelo.csv Equipamento: Espectrómetro portátil por fluorescência de raios-x Bruker Tracer III-SD.
racterização Química: ANÁLISE POR XRF 4 cps VIDRADO VERDE 3 2 Zn Cu Ni e Si Al P K Ti Mn Fe Ni Cu Zn 5 5 20 25 30 _XRF_Verde.csv Equipamento: Espectrómetro portátil por fluorescência de raios-x Bruker Tracer III-SD.
racterização Química: ANÁLISE POR XRF 4 cps VIDRADO CASTANHO 3 2 Zn Cu Ni Si Al P K Ti Mn Fe Ni Cu Zn 5 5 20 25 30 _XRF_stanho.csv Equipamento: Espectrómetro portátil por fluorescência de raios-x Bruker Tracer III-SD.