Identifique os defeitos no início do desenvolvimento com um teste HIL escalável

Transcrição

1 Identifique os defeitos no início do desenvolvimento com um teste HIL escalável Gabriel Ferreira Engenheiro de vendas - National Instruments

2 Desenvolvimento do software embarcado Projeto Teste físico K c K p Prototipagem Validação do sistema HIL K c K p K c K p Implementação 2

3 Teste de desenvolvimento do software embarcado Projeto Teste físico Prototipagem Validação do sistema HIL Implementação Teste manual de malha aberta Teste automatizado de malha fechada 3

4 Ferramentas de teste do software embarcado Custo Tamanho normal $100k Malha fechada $65k Malha aberta $18k $12k Painel de teste Controles manuais Recursos 4

5 Custo Ferramentas de teste do software embarcado Tamanho normal $100k FIU Malha fechada $65k Tamanho médio Malha aberta $18k $12k Painel de teste Controles manuais Recursos 5

6 Custo $100k Ferramentas de teste do software embarcado FIU Tamanho médio Tamanho normal Malha fechada $65k Malha aberta $18k $12k Painel de teste Desktop (malha fechada e malha aberta) Controles manuais Recursos 6

7 Custo dos erros no software um erro que custa $1 para ser consertado no desktop do programador custa $100 para ser consertado uma vez incorporado em um programa completo e custa milhares de dólares se ele for identificado apenas após o software ter sido implementado. 7

8 Plataforma HIL da NI Plataforma HIL escalável e módular que ajuda a identificar erros logo no início do processo de desenvolvimento Testador de integração Testador de subsistemas Testador de componentes 8

9 Mudança do conceito HIL logo no inicío do desenvolvimento Projeto Teste físico Prototipagem Validação do sistema HIL Testador de integração Testador de componentes Implementação Testador de subsistemas 9

10 Plataforma HIL da NI Escalável e modular Recursos Componente Subsistem a E/S determinísticas CAN/redes Serviços de diagnóstico Integração de modelos Calibração da ECU GUI com o recurso "arrastar/soltar" Definição baseada na configuração Aproveitamento da conectividade Cargas Inserção de falhas Painel de conexões Integração 10

11 Testador de componentes A quem se destina? A qualquer um que use um switch box. Projetista de algoritmos, engenheiro de software e engenheiros de teste em fase inicial de teste de ECU. Para que serve? Mais do que é possível fazer com um switch box. Leva o teste automatizado a muitas pessoas (preços mais baixos). Mais recursos de teste a um preço acessível para mais pessoas. 11

12 Arquitete uma plataforma de teste compacta FPGA Processador E/S modulares 12

13 Processamento poderoso em um modelo compacto Ferramenta de projeto de sistemas para processador e FPGA. Mais de 100 módulos para conectividade de E/S. 2 portas Gigabit Ethernet; portas seriais RS232 e RS 485; 4 portas USB 2.0; portas VGA e MXIe. Sistema operacional de tempo real para execução de modelo determinístico. Processador 1.33 GHz Dual-core DRAM Armazenam ento Consumo de energia 2G 32G 75 W 13

14 E/S modular para aplicações específicas de HIL + de 150 módulos de E/S de uso industrial Comunicação LIN e CAN PWM Resistência Células de carga E/S digitais e protocolos Microfone Acelerômetros Termopares 4 a 20 ma Mídia de armazenamento RTD Controle de motores Visão industrial Controle de movimento 14

15 Arquitetura HIL modular - Cargas intercambiáveis, condicionamento de sinais e FIU As gavetas podem ser criadas em uma variedade de configurações altamente escaláveis: Da simulação em desktop aos testadores de integração em rack. Gaveta e componente modulares para: HIL de desktop (malha aberta ou fechada). Unidade/integração com o HIL. Escravo de E/S com carga, FIU, SC. Gaveta de FIU/carga. 15

16 Testador de ECU em desktop: sistema completo de teste HIL em uma configuração de desktop Cargas resistivas FIU Temporização de E/S digitais com 8 canais ADC com 32 canais (detecção de corrente -16) E/S digitais com 32 canais (por módulo) DAC com 16 canais (ratiométrica -16) CAN/J

17 Gaveta de expansão dos recursos de carga e FIU Cargas equivalentes de 32 canais FIU Monitoramento de carga (medição de corrente ou E/S digitais com limites de entrada) Ethernet determinística (to master) 17

18 Interface para sistema PXI: Condicionamento de sinais, carga e FIU Cargas equivalentes FIU E/S não acondicionada E/S acondicionada 18

19 Interface de carga e FIU para sistema PXI 19

20 Preços de referência de sistemas 20

21 Preço e complexidade do sistema Escala de teste de componentes ao teste de integração do veículo Arquitetura comum do HIL da NI Sistema completo Integração Componente Quantidade de sistemas Desktop 21