TÉCNICAS DE MICROSCOPIA ELETRÔNICA PARA CARACTERIZAÇÃO DE MATERIAIS PMT-5858
|
|
- Angélica Nobre Farias
- 7 Há anos
- Visualizações:
Transcrição
1 TÉCNICAS DE MICROSCOPIA ELETRÔNICA PARA CARACTERIZAÇÃO DE MATERIAIS PMT ª AULA Formação de Imagem Prof. Dr. Antonio Ramirez Londoño (LNLS) Prof. Dr. André Paulo Tschiptschin (PMT)
2 OBJETIVOS: 1. COMO É CRIADA A IMAGEM NO MEV? 2. COMO AS INTERAÇÕES ELÉTRONS - AMOSTRA E AS CARACTERÍSTICAS DOS DETETORES INFLUENCIAM A IMAGEM? 3. COMO SE RELACIONAM OS NÍVEIS DE CINZA OBSERVADOS NO MICROSCÓPIO COM AS PROPORIEDADES DA AMOSTRA (composição, forma, topografia, etc. ) 4. DISCRIMINAÇÃO DE FEIÇÕES: QUAIS FATORES PERMITEM OU NÃO DETETAR CERTAS FEIÇÕES AO MEV 5. ENGANOS E ARMADILHAS AO MEV
3 2. A AÇÃO DE VARREDURA Uma bobina de varredura controla o feixe de elétrons para uma seqüência de posições. CONSTRUÇÃO DA IMAGEM - VARREDURA AO LONGO DE UMA LINHA O sistema de geração da varredura controla simultaneamente o feixe sobre a amostra e a respectiva imagem (ou memória)
4 CONSTRUÇÃO DA IMAGEM - VARREDURA EM UMA ÁREA Unidade discreta da Imagem PIXEL Aumento M = L / l Como modificar o aumento: maior: reduzir l menor: aumentar l
5 VARREDURA EM UMA ÁREA - MUDULAÇÃO DE INTENSIDADE Medida do sinal da interação elétrons-amostra Modulação do sinal - ajuste do brilho de acordo com a intensidade do sinal obtida de cada pixel TAMANHO DO PIXEL - CONCEITO CRÍTICO O tamanho do pixel refere-se à uma certa dimensão da amostra. Se varrermos um monitor quadrado com aresta de 10 cm a região equivalente na amostra é de 10 cm / mag. A largura individual de cada pixel é encontrada através da divisão pelo número de pixels Tamanho do pixel = 10 cm / mag / nº pixels Como é o tamanho do pixel comparado com a área amostrada da interação elétrons-amostra?
6 PORQUE DEVEMOS PRESTAR ATENÇÃO AO TAMANHO DO PIXEL RELAÇÃO ENTRE ÁREA DE INTERAÇÃO ELÉTRONS-AMOSTRA BSE E TAMANHO DO PIXEL Em pequeno aumento ( < 1000 X) a região de geração de BSE é muito menor que as dimensões do pixel. O diâmetro do feixe pode ser aumentado, elevando-se a corrente obtida, sem nenhum prejuízo à resolução. A QUALIDADE DA IMAGEM SERÁ MELHORADA (menor ruído)!!! MELHOR CONTRASTE!!! Tamanho do pixel em função do aumento - monitor 20, resol X 768 aumento pixel (μm) aumento pixel (μm) 10 X 15, X 0,16 50 X 3, X 0, X 1, X 0,016 (16 nm) 500 X 0, X 0,003 (3,1 nm)
7 MODOS DE OPERAÇÃO DO MEV PEQUENO AUMENTO ( < X - low mag.) 1. Resolução NÃO é prioridade, portanto feixe de pequeno diâmetro não é importante, 2. O diâmetro do feixe pode ser aumentado de forma a se obter uma corrente maior possibilitando um melhor contraste de imagem. DIÂMETRO VERSUS CORRENTE DO FEIXE DE ELÉTRONS Um pequeno aumento no diâmetro do feixe proporciona um significativo incremento na corrente de elétrons. Para os BSE a resolução diminui com aumento da voltagem de aceleração dos elétrons (E 0 ) e diminuição do número atômico (Z) e de densidade (ρ) - R (K-O) aumenta R (K-O)= 0,0276 A E 1,67 0 / Z 0,89 ρ
8 PEQUENO AUMENTO ( < X - low mag.) 1. Resolução NÃO é prioridade, portanto feixe de pequeno diâmetro não é importante, 2. O diâmetro do feixe pode ser aumentado de forma a se obter uma corrente maior possibilitando um melhor contraste de imagem. 3. Profundidade de foco é importante. Operar o MEV com abertura de pequeno diâmetro e/ou maior distância de trabalho. Profundidade de foco - Profundidade de Campo A divergência do feixe de elétrons provoca um aumento do seu diâmetro até que a superposição de pixels se torna importante: perda de foco r tan α = r/ (D/2) α para pequenos ângulos α tanα d min D, Profundidade de foco α r(d/2) D 2r / α Considerando que a perda de foco se torna mais significativa quando dois pixels se sobrepõem perda de foco = 2r, ou r = 1 pixel
9 FATORES QUE CONTROLAM A PROFUNDIDADE DE FOCO D = 2 pixel / (M α) D = profundidade de foco M = aumento M, o aumento está limitado pelo campo de visão do objeto selecionado. Desta forma o parâmetro efetivo utilizado para o controle da profundidade de foco é o ângulo α do feixe de elétrons. r α Abertura final WD WD = distância de trabalho Divergência, α r / WD Para aumentar a profundidade de foco pode-se: 1. usar abertura menor, r, 2. aumentar a distância de trabalho, WD.
10 DISTORÇÕES DA IMAGEM As imagens no MEV são representações 2D de imagens 3D Quando os objetos são planos e perpendiculares ao eixo ótico do microscópio: área de varredura na amostra área no monitor Existe uma correspondência perfeita de pontos e formas ente a amostra e a imagem obtida. DISTORÇÃO DE PROJEÇÃO Eixo óptico Objeto em 3D fora do plano Objeto plano perpendicular ao eixo óptico Plano da amostra Imagem verdadeira Imagem distorcida Plano de projeção
11 Distorção da projeção que resulta de uma inclinação da amostra de 45º. A varredura tem o comprimento correto na direção horizontal (paralela ao eixo de inclinação), porém é aumentada na direção perpendicular ao eixo de inclinação (direção vertical), com redução do aumento. (a) plano da amostra perpendicular ao feixe; (b) grade inclinada de 55º em relação ao feixe; (c) correção de inclinação aplicada para que os quadrados fiquem com a relação de aspecto correta. A esfera fica distorcida.
12 DISTORÇÃO DE PROJEÇÃO Comprimentos verdadeiros Na imagem ao MEV todos os segmentos apresentam a mesma dimensão CORREÇÃO DE IMAGEM DE AMOSTRAS PLANAS INCLINADAS TILT CORRECTION DYNAMIC FOCUS Vantagem: amostras planas com inclinação (tilt) conhecido Desvantagem: Causa distorções / desvios do foco não conhecidas para amostras com superfície irregular
13 2. DETETORES ELÉTRONS RETRO-ESPALHADOS (BSE) Fáceis de detetar (alta energia, 0,5 E 0 ou mais) Difíceis de coletar frente a sua elevada velocidade - linha reta ELÉTRONS SECUNDÁRIOS (SE) Difíceis de detetar (energia muito baixa, < 5O ev) Fáceis de coletar por a sua elevada velocidade. SE s podem ser desviados por campos elétricos e magnéticos. CORRENTE DE AMOSTRA (SC) Fáceis de detetar, corrente que sai da amostra Fáceis de coletar, a amostra é o próprio coletor Difíceis de amplificar: corrente muito baixa (na a pa) CARACTERÍSTICAS DO DETETORES Ω - ângulo sólido que traduz a eficiência geométrica do detetor (Ω = A / r 2 ) Ψ - take-off angle - posição relativa à superfície da amostra
14 EVERHART - THORNLEY DETECTOR (SE) DETETOR DE ELÉTRONS SECUNDÁRIOS F - cilindro de Faraday - 50V + 250V S - Cintilador LG - Guia de luz PM - fotomultiplicador 1. Uma pequena diferença de voltagem (+250V) aplicada no cilindro de Faraday atrai os elétrons SE s (Bias positivo) 2. Grande diferença de voltagem no cintilador (12kV) acelera os SE s 3. A aplicação de voltagem negativa no cilindro de Faraday repele os elétrons SE s (Bias negativo). Coleta de BSE para diferentes ângulos de take-off em se considerando detetor com cilindro de Faraday em potencial negativo Ilustração esquemática do desvio dos SE s para detetor com cilindro de Faraday em potencial positivo. Esse potencial tem efeito muito pequeno sobre os BSE.
15 ESQUEMA DE COLETA DE BSE COM CILINDRO DE FARADAY EM POTENCIAL POSITIVO Ω - Grande!!! Ψ - só definido para BSE diretos A maior parte dos BSE segue trajetórias não dirigidas diretamente ao detetor E-T. Esses elétrons batem na peça polar e nas paredes da câmara gerando SEs III e SEs IV Coleção de sinais de elétrons secundários em amostra de ouro para um detetor ET com potencial positivo aplicado no cilindro de Faraday. Sinal Fonte % SE I Secundários produzidos pelo feixe 9 SE II Secundários produzidos pelos BSEs 28 SE III Secundários produzidos pelos BSEs remotos 61 SE IV Secundários da interação entre o feixe e as aberturas 2
16 DETETORES DEDICADOS DE ELÉTRONS RETROESPALHADOS DETETORES DE CINTILAÇÃO (detetor pode ficar muito próximo da amostra pois não há voltagem aplicada; não ocorre interferência da voltagem no feixe). DETETOR DE CONVERSÃO BSE - SE
17 DETETOR DE ESTADO SÓLIDO Diagrama esquemático Instalação usual DETETOR DE CORRENTE DE AMOSTRA i SC = i B - i SE - i BSE DETETOR DE CATODOLUMINESCÊNCIA fotomultiplicador Feixe de elétrons Ultravioleta, visível, infravermelho. lente
18 3. CONTRASTE DE IMAGEM DEFINIÇÃO DE CONTRASTE (C) C = S 2 - S 1 / S 2, onde S 2 > S 1 0 < C < 1 S1 e S2 representam os sinais detetados em dois pontos da amostra escolhidos de forma arbitrária. COMPONENTES DE CONTRASTE: COMPONENTE DE NÚMERO Componente de contraste devido ao número de elétrons que deixam a amostra. COMPONENTE DE TRAJETÓRIA Componente de contraste devido às diferentes trajetórias percorridas por elétrons após deixar a amostra COMPONENTE DE ENERGIA Componente de contraste devido às diferentes faixas denergia da distribuição de energia dos BSEs.
19 CONTRASTE DE COMPOSIÇÃO CONTRASTE DE NÚMERO ATÔMICO COM BSE s Mesma composição Composições distintas BSE s com cilindro de Faraday em potencial positivo Corrente de amostra (inverso do BSE)
20 CONTRASTE DE NÚMERO ATÔMICO COM BSE s Coeficiente de BSE em função de Z C = ( η 2 - η 1 ) / η 2 Contraste de número atômico para diferentes pares de elementos Diferença de número atômico passível de distinção em uma imagem de BSE s
21 CONTRASTE DE TOPOGRAFIA CONTRASTE DE TOPOGRAFIA: DETETOR EVERHART-THORNLEY 1. O detetor esta posicionado em um lado da amostra: tem uma visão anisotrópica da amostra; 2. O ângulo sólido do detetor é pequeno: somente uma pequena parcela dos BSE s pode ser coletada; 3. O detetor apresenta baixo ângulo de take-off em relação à horizontal Coleta de SE s em superfície irregular para detetor E-T com cilindro de Faraday em potencial negativo (BSE s diretos) Coleta de SE s em superfície irregular para detetor E-T com cilindro de Faraday em potencial positivo (SE + BSE s diretos e indiretos)
22 CONTRASTE DE TOPOGRAFIA: DETETOR EVERHART-THORNLEY E-T em potencial negativo BSE s diretos E-T em potencial positivo SE s + BSE s diretos e indiretos ANALOGIA COM ILUMINAÇÃO CONVENCIONAL FEIXE DE ELÉTRONS = OLHOS DO OBSERVADOR DETETOR E-T = FONTE DE LUZ
23 TÉCNICAS DE MICROSCOPIA ELETRÔNICA PARA CARCATERIZAÇÃO DE MATERIAIS
24 Cuidado com a iluminação!!! Blister em liga de níquel Microdesgaste no esmalte de um dente de cavalo.
25 ANALOGIA COM A ILUMINAÇÃO CONVENCIONAL PARA OUTROS DETETORES DE BSE s ANULAR DE CINTILAÇÃO ILUMINAÇÃO CO-LINEAR - A iluminação parece provir do próprio ponto de observação CONTRASTE DE TOPOGRAFIA COM OUTROS DETETORES DETETORES DEDICADOS DE BSE s DETETOR DE CORRENTE DE AMOSTRA - SC SEPARAÇÃO DOS COMPONENTES DE CONTRASTE - BSE s ZONAS A e B ZONAS 1, 2, 3 e 4 (MODOS COMPOSIÇÃO E TOPOGRAFIA)
26 4. QUALIDADE DE IMAGEM Depende de: 1. Relação entre o potencial de contraste disponível e a qualidade do sinal, que é degradado pela presença de flutuações randômicas conhecidas como ruído. 2. Técnicas de processamento do sinal que devem ser aplicadas para traduzir a informação de contraste em um sinal amplificado, visível no monitor. (a) Variação do sinal ao longo de uma linha de varredura; (b) variação de sinal de múltiplas varreduras ao longo da mesma linha superpostas. A relação sinal-ruído é dada por S/N (noise), sendo que a condição: ΔS >> 5N (critério de Rose) deve ser respeitada RELAÇÃO ENTRE INTENSIDADE MÍNIMA DE CORRENTE DE FEIXE E CONTRASTE i B > (4 x ) n PE / δ C 2 t f (A) i B = intensidade do feixe n PE = número de pixels na tela δ = eficiência de coleta do sinal C = contraste t f = tempo de varredura por tela (s)
27 REPRESENTAÇÃO GRÁFICA DA RELAÇÃO ENTRE CONTRASTE, INTENSIDADE DO FEIXE E TEMPO DE VARREDURA resolução do monitor: x pixels; eficiência de coleta δ= 0,25 Sabendo o valor da corrente necessária pode-se calcular o Probe Size portanto a resolução. Diâmetro de feixe (spot size) para diferentes valores de contraste para filamento de tungstênio, 20 kev.
28 5. PROCESSAMENTO DE IMAGEM AMPLIAÇÃO DIFERENCIAL GAMMA - INTENSIFICAÇÃO DE CONTRASTE
29 PROCESSAMENTO DE DERIVADA
30 MISTURAS DE SINAIS - SIGNAL MIXING Duas memórias de imagens (A e B) A - BSE 0 % 100 % B - SE 0 % 100 % Pode-se compor os sinais das memórias A e B em diferentes proporções. Salienta-se ainda que cada memória apresenta controle próprio de brilho e contraste. PROCESSAMENTO DIGITAL ON-LINE Frame average Line average Filtros Medidas de áreas relativas OFF-LINE
31 DEFEITOS DA IMAGEM CONTAMINAÇÃO Substância estranha à amostra - material carbonoso Ao se reduzir o aumento se observa um depósito de superfície na área de varredura em grande aumento.
32 DEFEITOS DA IMAGEM CARGA NA AMOSTRA Fenômeno mais comum em amostras não condutoras. Altera o potencial da superfície da amostra afetando a qualidade da imagem de várias maneiras: faixas ou bandas horizontais; regiões extremamente claras na imagem; alteração da posição do feixe, causando deslocamentos da imagem (a amostra parece se movimentar); FORMAS DE EVITAR CARGA NA AMOSTRA: Utilizar baixa aceleração de voltagem - E 0 ; Baixa corrente de elétrons (5 a 50 pa); Varredura rápida, modo TV ou próximo, de forma a se manter um equilíbrio dinâmico da carga na amostra (frame ou line average para compensar a qualidade da imagem); Cobrir a amostra com uma película de material condutor ouro ou carbono (3 a 20 nm) Observar amostra com detetor de BSE s (menos sensível a carga que detetor de SE s)
1º ETAPA PROVA DE MÚLTIPLA ESCOLHA (ELIMINATÓRIA)
CONCURSO PÚBLICO DE ESPECIALISTA EM LABORATÓRIO EDITAL EP - 006/2012 1º ETAPA PROVA DE MÚLTIPLA ESCOLHA (ELIMINATÓRIA) NOME: Assinatura DATA: 11/04/2012 INSTRUÇÕES: 1. Somente iniciar a prova quando for
Leia maisTécnicas de microscopia eletrônica de varredura para caracterização de materiais PMT-5858
Técnicas de microscopia eletrônica de varredura para caracterização de materiais PMT-5858 Prática Laboratorial Prof. Dr. André Paulo Tschiptschin (PMT-EPUSP) DEPENDÊNCIA ENTRE OS CONCEITOS BÁSICOS DE OPERAÇÃO
Leia maisTÉCNICAS DE MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA PARA CARACTERIZAÇÃO DE MATERIAIS PMT-5858
TÉCNICAS DE MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA PARA CARACTERIZAÇÃO PMT-5858 3ª AULA Interação entre elétrons e amostra Prof. Dr. André Paulo Tschiptschin (PMT-EPUSP) 1. INTERAÇÃO ELÉTRONS AMOSTRA O QUE
Leia maisANDRÉ LUIZ PINTO CBPF
1 MICROSCOPIA ELETRÔNICA ANDRÉ LUIZ PINTO CBPF Roteiro Introdução Fundamentos Fontes de elétrons Lentes de elétrons Interação elétron-matéria Microscópio Eletrônico de Varredura Microscópio Eletrônico
Leia maisMicroscopia para Microeletrônica
QuickTime and a Photo - JPEG decompressor are needed to see this picture. Microscopia para Microeletrônica Prof. Dr. Antonio Carlos Seabra acseabra@lsi.usp.br Microscopia Tipos de análise Morfológica (espessura,
Leia maisTÉCNICAS DE MICROSCOPIA ELETRONICA PARA CARCATERIZAÇÃO DE MATERIAIS PMT-5858
TÉCNICAS DE MICROSCOPIA ELETRONICA PARA CARCATERIZAÇÃO DE MATERIAIS PMT-5858 5ª AULA Detectores de Raios-X Prof. Dr. Antonio Ramirez Londoño (LNLS) Prof. Dr. André Paulo Tschiptschin (PMT) 1. REVISÃO --
Leia maisParte II Elementos básicos do microscópio. II Encontro da Rede Mineira de Química - UFSJ - Maio de 2012
Parte II Elementos básicos do microscópio 18 Elementos básicos do microscópio Condensadora Lente Objetiva Tela fluorescente Objeto Plano focal Primeira imagem 19 Canhões de Elétrons Além da fonte de elétrons,
Leia maisEspectroscopia de Fotoelétrons Excitados por Raios X. Prof.Dr. Ubirajara Pereira Rodrigues Filho
Espectroscopia de Fotoelétrons Excitados por Raios X Prof.Dr. Espectrômetro de Fotoemissão Esquema Simplificado 2 Fontes de Raios X Fonte de Raios X 3 Fontes Tradicionais de raios-x Tubos de Raios X Emissão
Leia mais3 Técnicas de medição do escoamento
Técnicas de medição do escoamento 28 3 Técnicas de medição do escoamento O conhecimento do campo de velocidade de fluidos em movimento é fundamental para o entendimento dos mecanismos básicos que governam
Leia maisLista de Exercícios 3 Corrente elétrica e campo magnético
Lista de Exercícios 3 Corrente elétrica e campo magnético Exercícios Sugeridos (16/04/2007) A numeração corresponde ao Livros Textos A e B. A22.5 Um próton desloca-se com velocidade v = (2i 4j + k) m/s
Leia maisLista de Exercícios 5 Corrente elétrica e campo magnético
Lista de Exercícios 5 Corrente elétrica e campo magnético Exercícios Sugeridos (13/04/2010) A numeração corresponde ao Livros Textos A e B. A22.5 Um próton desloca-se com velocidade v = (2 î 4 ĵ + ˆk)
Leia maisInterferência e Experiência de Young
Nome: nº 2 Professor Caio Interferência e Experiência de Young 1. (UECE 2007) Através de franjas de interferência, é possível determinar características da radiação luminosa, como, por exemplo, o comprimento
Leia maisinteração feixe de elétrons-amostra [3] Propriedades do elétron:
[3] Propriedades do elétron: 1> Comprimento de onda do feixe de elétrons (λ): V [kv] λ [pm] 1 38,7 5 17,3 10 12,2 15 9,9 20 8,6 25 30 120 200 7,6 6,9 3,3 2,5 λ = λ = 2 e V m 1,5 h e 2 + ( ) 6 2 V + 10
Leia maisTolerância geométrica de orientação
Tolerância geométrica de orientação A UU L AL A vimos a maneira de verificar a forma de apenas um elemento, como planeza, circularidade, retilineidade. O problema desta aula é verificar a posição de dois
Leia maisMICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA E MICROANÁLISE QUÍMICA PMT-5858
MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA E MICROANÁLISE QUÍMICA PMT-5858 1ª AULA Introdução Óptica Eletrônica Prof. Dr. André Paulo Tschiptschin (PMT-EPUSP) PMT-5858 - TÉCNICAS DE MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE
Leia maisFormação de Imagens de SAR
Formação de Imagens de SAR Natural Resources Ressources naturelles Canada Canada Formação de Imagens de SAR -Tópicos- Princípios e Geometria de SAR Equação de Radar Antenas, Polarização, Ganho da antena,
Leia maisAquisição de Imagens
Aquisição de Imagens Etapas típicas envolvidas no processamento de imagens. Aquisição da imagem Pré-processamento Segmentação Reconhecimento dos objetos e regiões Princípios da Visão Humana Referência:
Leia maisFabricação de micro e nanoestruturas empregando litografia
Fabricação de micro e nanoestruturas empregando litografia Prof. Dr. Antonio Carlos Seabra Dep. Eng. de Sistemas Eletrônicos Escola Politécnica da USP acseabra@lsi.usp.br Objetivos! Familiarizar potenciais
Leia maisNOTAS DE AULAS DE FÍSICA MODERNA
NOTAS DE AULAS DE FÍSICA MODERNA Prof. Carlos R. A. Lima CAPÍTULO 4 PROPRIEDADES ONDULATÓRIAS DA MATÉRIA Edição de junho de 2014 CAPÍTULO 4 PROPRIEDADES ONDULATÓRIAS DA MATÉRIA ÍNDICE 4.1- Postulados de
Leia maisProcessos Avançados de Microeletrônica. Litografia. Aula1
Processos Avançados de Microeletrônica Litografia Aula1 Antonio Carlos Seabra Dep. Eng. de Sistemas Eletrônicos Escola Politécnica da USP acseabra@lsi.usp.br Litografia Top-Down Litografia na Indústria
Leia maisExercícios DISCURSIVOS -1.
Exercícios DISCURSIVOS -1. 1- Uma pedra preciosa cônica, de 15,0 mm de altura e índice de refração igual a 1,25, possui um pequeno ponto defeituoso sob o eixo do cone a 7,50 mm de sua base. Para esconder
Leia maisInstituto de Física EXPERIÊNCIA 11. Deflexão de feixe de elétrons - razão carga massa (e/m) I. OBJETIVOS DESCRIÇÃO DO EXPERIMENTO
EXPERIÊNCIA 11 Deflexão de feixe de elétrons - razão carga massa (e/m) I. OBJETIVOS - Verificar a dependência da trajetória de um feixe de elétrons quando sujeito a diferentes potenciais de aceleração
Leia mais7 Identificação de Regiões de Tensão ao Redor das Indentações por Catodoluminescência
7 Identificação de Regiões de Tensão ao Redor das Indentações por Catodoluminescência Neste capítulo será apresentado o estudo sobre a identificação de regiões de tensão ao redor de nanoindentações realizadas
Leia maisÓtica geométrica. Num sistema ótico arbitrário, um raio de luz percorre a mesma trajetória quando o seu sentido de propagação é invertido
Ótica geométrica Princípio da Reversibilidade Num sistema ótico arbitrário, um raio de luz percorre a mesma trajetória quando o seu sentido de propagação é invertido Deriva directamente do princípio do
Leia maisNOTAS DE AULAS DE FÍSICA MODERNA
NOTAS DE AULAS DE FÍSICA MODERNA Prof. Carlos R. A. Lima CAPÍTULO 5 PROPRIEDADES ONDULATÓRIAS DA MATÉRIA Edição de janeiro de 2009 CAPÍTULO 5 PROPRIEDADES ONDULATÓRIAS DA MATÉRIA ÍNDICE 5.1- Postulados
Leia maisMicroscopia e o Espectro Eletromagnético
Microscopia e o Espectro Eletromagnético O limite de resolução inferior de um microscópio é determinado pelo fato de que, nestes instrumentos, se utiliza ondas eletromagnéticas para a visualização Não
Leia maisMicroscopia eletrônica de Transmissão: Aspectos básicos e aplicações. Douglas Rodrigues Miquita Centro de Microscopia da UFMG
Microscopia eletrônica de Transmissão: Aspectos básicos e aplicações. Douglas Rodrigues Miquita Centro de Microscopia da UFMG Parte I Introdução aos aspectos básicos Por que precisamos de TEM 2 Prólogo
Leia maisMetrologia Plano de Aula - 24 Aulas (Aulas de 1 Hora).
6464 - Metrologia Plano de Aula - 24 Aulas (Aulas de 1 Hora). Aula 1 Capítulo 1 - Introdução 1.1. O que é Metrologia... 23 1.2. Por que Medir?... 24 1.3. Metrologia e Controle Dimensional na Indústria...
Leia maisÓptica. Aula 6 - Lentes e Instrumentos Ópticos.
Óptica Aula 6 - Lentes e Instrumentos Ópticos Aula passada Luz que passa de um meio transparente para outro é observada de ser 1. refletida na interface entre os meios 2. refratada (muda de direção) Dedução
Leia maisTC 2º Ano Olímpico Professor: Eduardo Kilder
TC 2º Ano Olímpico Professor: Eduardo Kilder 01 ) (Unicamp-SP) Um fio condutor rígido de 200 g e 20 cm de comprimento é ligado ao restante do circuito por meio de contatos deslizantes sem atrito, como
Leia maisA IMAGEM DE TELEVISÃO
STV 18 AGO 2008 1 A IMAGEM DE TELEVISÃO a televisão, basicamente, reproduz imagens estáticas a seqüência dessas imagens, em rápida sucessão, nos dá a sensação de movimento cada uma das imagens, ou quadro,
Leia maisFÍSICA B ª SÉRIE EXERCÍCIOS COMPLEMENTARES ALUNO
EXERCÍCIOS COMPLEMENTARES ALUNO TURMA: FÍSICA B - 2012 1ª SÉRIE DATA: / / 1) Analise as afirmativas abaixo sobre o conceito de grandezas escalares e vetoriais. I Uma grandeza é chamada de escalar quando
Leia maisAquisição de Imagens
Aquisição de Imagens Etapas típicas envolvidas no processamento de imagens. Aquisição da imagem Pré-processamento Segmentação Reconhecimento dos objetos e regiões Princípios da Visão Humana Referência:
Leia maisAs máquinas de medir, na sua concepção tradicional, estão perdendo importância pelo fato:
Capítulo 8 MÁQUINAS DE MEDIR 8.1 INTRUDUÇÃO Máquina de medir é o nome corrente para sistemas de medição geométrico de porte razoável e que se assemelham às máquinas-ferramenta no que se refere à estrutura.
Leia maisCONCURSO DE ADMISSÃO AO CURSO DE FORMAÇÃO E GRADUAÇÃO FÍSICA CADERNO DE QUESTÕES 2015 / 2016
CONCURSO DE ADMISSÃO AO CURSO DE FORMAÇÃO E GRADUAÇÃO FÍSICA CADERNO DE QUESTÕES 2015 / 2016 1 a QUESTÃO Valor: 1,0 Um copo está sobre uma mesa com a boca voltada para cima. Um explosivo no estado sólido
Leia maisPlano de Aula - Metrologia - cód Horas/Aula
Plano de Aula - Metrologia - cód. 0000 24 Horas/Aula Aula 1 Capítulo 1 - Introdução Aula 2 Capítulo 1 - Sistemas de Medidas Aula 3 Continuação Capítulo 2 - Sistemas de Medidas Aula 4 Capítulo 3 - Técnicas
Leia maisQUESTÕES OBJETIVAS. a) 1 b) h 1 h 2 c) h 1 + h 2 d) h 1 /h 2 e) h 2 /h 1
Triênio 007-009 QUESTÕES OBJETIVAS Use se necessário: 1L = 10-3 m 3. sen 45 = cos 45 = ; 1 sen 30 = cos 60 = ; sen 60 = cos 30 = 3 Questão 9: Em uma brincadeira numa piscina, uma pessoa observa o esforço
Leia mais2008 3ª. Fase Prova para alunos do 3º. ano LEIA ATENTAMENTE AS INSTRUÇÕES ABAIXO:
2008 3ª. Fase Prova para alunos do 3º. ano LEIA ATENTAMENTE AS INSTRUÇÕES ABAIXO: 01) Essa prova destina-se exclusivamente a alunos do 3º. ano do Ensino Médio e contém oito (8) questões. 02) Os alunos
Leia maisUm Estudo das Técnicas de Obtenção de Forma a partir de Estéreo e Luz Estruturada para Engenharia
Um Estudo das Técnicas de Obtenção de Forma a partir de Estéreo e Luz Estruturada para Engenharia Aluno: Gabriel Malizia Orientador: Professor Marcelo Gattass Co-Orientador: Professor Paulo Cezar Carvalho
Leia maisCOMPROVAÇÃO DA NATUREZA DAS ONDAS DA LUZ E DETERMINAÇÃO DO COMPRI- MENTO DE ONDAS.
Óptica Óptica ondulatória Difração em fendas múltiplas e grades COMPROVAÇÃO DA NATUREZA DAS ONDAS DA UZ E DETERMINAÇÃO DO COMPRI- MENTO DE ONDAS. Estudo da difração em fendas duplas com diversas distâncias
Leia maisDiagrama do olho PROJETO E AVALIAÇÃO SISTÊMICOS por Mônica de Lacerda Rocha - CPqD
1 A técnica de medida conhecida como diagrama de olho, feita no domínio do tempo, é uma ferramenta importante para se avaliar o desempenho de um sistema óptico digital, pois permite uma visualização da
Leia maisUniversidade de São Paulo Instituto de Física Laboratório Didático
Universidade de São Paulo Instituto de Física Laboratório Didático MOVIMENTO DE ELÉTRONS EM CAMPOS ELÉTRICOS E MAGNÉTICOS E DETERMINAÇÃO DA RAZÃO CARGA/MASSA DO ELÉTRON Guia de estudos 1. Objetivos Estudar
Leia maisCapítulo 33. Ondas eletromagnéticas
Capítulo 33 Ondas eletromagnéticas O Arco-íris de Maxwell James Clerk Maxwell: - raio luminoso = onda eletromagnética - óptica (luz visível) = ramo do eletrom. Meados do séc. XIX: - espectro = UV-Vis +
Leia maisIntrodução à FIB Focused Ion Beam. Henrique Limborço Microscopista CM-UFMG Prof. Departamento de Física UFMG
Introdução à FIB Focused Ion Beam Henrique Limborço Microscopista CM-UFMG Prof. Departamento de Física UFMG Resumo Origem da técnica Exemplos de aplicação Fonte de Íons Formação de imagens em MEV Sputtering
Leia maisÓptica Geométrica Séries de Exercícios 2018/2019
Óptica Geométrica Séries de Exercícios 2018/2019 24 de Maio de 2019 =2= 2018/2019 Óptica Geométrica Série de exercícios n.1 Propagação da luz 1. A velocidade da luz amarela de sódio num determinado líquido
Leia maisMassa Atômica e Molecular, Mol
Capítulo Massa Atômica e Molecular, Mol Leia o texto seguinte, referente ao espectrógrafo de massa, e a seguir resolva os exercícios de a 6. É um aparelho capaz de fornecer a composição isotópica qualitativa
Leia maisDuração do exame: 2:30h Leia o enunciado com atenção. Justifique todas as respostas. Identifique e numere todas as folhas da prova.
Duração do exame: :3h Leia o enunciado com atenção. Justifique todas as respostas. Identifique e numere todas as folhas da prova. Problema Licenciatura em Engenharia e Arquitetura Naval Mestrado Integrado
Leia mais228 Interferômetro de Michelson
1 Roteiro elaborado com base na documentação que acompanha o conjunto por: Osvaldo Guimarães PUC-SP & Otávio Augusto T. Dias IFT-SP Tópicos Relacionados Interferência, comprimento de onda, índice de refração,
Leia maisESCOLA ESTADUAL JOÃO XXIII A Escola que a gente quer é a Escola que a gente faz!
ESCOLA ESTADUAL JOÃO XXIII A Escola que a gente quer é a Escola que a gente faz! NATUREZA DA ATIVIDADE: EXERCÍCIOS DE FIXAÇÃO - ELETROSTÁTICA DISCIPLINA: FÍSICA ASSUNTO: CAMPO ELÉTRICO, POTENCIAL ELÉTRICO,
Leia maisFísica Unidade VI Série 2
01 A força magnética F é perpendicular, simultaneamente, ao campo indução B e a velocidade v. No entanto v e B não são, necessariamente, perpendiculares entre si. Resposta: B 1 02 Como a velocidade é paralelo
Leia maisCONCURSO DOCENTE 2016 QUESTÕES DISCURSIVAS FÍSICA
CONCURSO DOCENTE 016 QUESTÕES DISCURSIVAS FÍSICA 1ª QUESTÃO Um gerador de força eletromotriz 1 V e resistência interna,0 Ω é ligado a uma resistência externa de valor R. A potência dissipada na resistência
Leia mais1 Fibra óptica e Sistemas de transmissão ópticos
1 Fibra óptica e Sistemas de transmissão ópticos 1.1 Introdução Consiste de um guia de onda cilíndrico, conforme Figura 1, formado por núcleo de material dielétrico ( em geral vidro de alta pureza), e
Leia maisPequenas diferenças de atenuação dos tecidos mamários requerem o uso de equipamentos e técnicas especiais para detecção do câncer de mama
Mamografia Pequenas diferenças de atenuação dos tecidos mamários requerem o uso de equipamentos e técnicas especiais para detecção do câncer de mama São essenciais técnicas que minimizem as doses e otimizem
Leia maisESCOLA SECUNDÁRIA DE CASQUILHOS
ESCOLA SECUNDÁRIA DE CASQUILHOS 5º Teste sumativo de FQA 27. abril. 2016 Versão 1 10º Ano Turma A Professora: Maria do Anjo Albuquerque Duração da prova: 90 minutos. Este teste é constituído por 8 páginas
Leia mais1 a Questão: (2,0 pontos)
a Questão: (, pontos) Um bloco de massa m, kg repousa sobre um plano inclinado de um ângulo θ 37 o em relação à horizontal. O bloco é subitamente impulsionado, paralelamente ao plano, por uma marretada,
Leia maisPrimeira Lista - lei de Coulomb
Primeira Lista - lei de Coulomb FGE211 - Física III 1 Sumário A força elétrica que uma carga q 1 exerce sobre uma carga q 2 é dada pela lei de Coulomb: onde q 1 q 2 F 12 = k e r 2 ˆr = 1 q 1 q 2 4πɛ 0
Leia maisCorte por serra de fita
Corte por serra de fita Corte por serra de fita Formação do cavaco O processo de formação de cavaco no corte por serra de fita é feito em duas fases: Na primeira fase, o dente comprime e curva as fibras
Leia maisDADOS. Calor latente de fusão do gelo: L J/kg; 128 J/(kg C). Calor específico do chumbo: cpb
DADOS 3 Calor latente de fusão do gelo: L 334 10 J/kg; f Calor específico do chumbo: cpb 18 J/(kg C). Potencial eletrostático na superfície de uma esfera condutora de raio R e carregada com carga q : V
Leia maisFUVEST 98 SEGUNDA FASE PROVA DE FÍSICA Q.01
Q.01 Estamos no ano de 2095 e a "interplanetariamente" famosa FIFA (Federação Interplanetária de Futebol Amador) está organizando o Campeonato Interplanetário de Futebol, a se realizar em MARTE no ano
Leia maisCamada Física. Camada Física
Camada Física Camada Física lida com a transmissão pura de bits definição do meio físico, níveis de tensão, duração de um bit, taxa de transmissão,comprimento máximo, construção dos conectores Camada Física
Leia mais2 HIDROSTÁTICA PROBLEMA 2.1 RESOLUÇÃO
2 HIDROSTÁTICA PROBLEMA 2.1 O tubo representado na figura está cheio de óleo de densidade 0,85. Determine as pressões nos pontos A e B e exprima-as em altura equivalente de água. Fundamentos de Engenharia
Leia maisFÍSICA I. 02. Observa-se, na figura a seguir, uma corda fixa em suas extremidades na qual foi estabelecida uma onda estacionária.
FÍSICA I Esta prova tem por finalidade verificar seus conhecimentos das leis que regem a natureza. Interprete as questões do modo mais simples e usual. Não considere complicações adicionais por fatores
Leia maisCapitulo 4 Figuras Geométricas Planas
Página16 Capitulo 4 Figuras Geométricas Planas Ponto O ponto é a figura geométrica mais simples, não tem dimensão (comprimento, largura e altura) e é determinado pelo cruzamento de duas linhas. Identificação
Leia maisMat. Monitor: Roberta Teixeira
Professor: Rafael Jesus Monitor: Roberta Teixeira Exercícios de revisão sobre geometria espacial 22 set EXERCÍCIOS DE AULA 1. Dois dados, com doze faces pentagonais cada um, têm a forma de dodecaedros
Leia maisa) faça o diagrama das forças que atuam sobre o garoto no ponto B e identifique cada uma das forças.
UFJF CONCURSO VESTIBULAR PROVA DE FÍSICA Na solução da prova, use quando necessário: 3 3 Aceleração da gravidade g = m / s ; Densidade da água ρ =, g / cm = kg/m 8 Velocidade da luz no vácuo c = 3, m/s
Leia maisFísica. 28)Para exemplificar pares de forças, segundo o princípio da ação-reação, são apresentadas as seguintes situações:
Física 26) De um determinado local da superfície da Terra um objeto é lançado verticalmente para cima Considerando as seguintes grandezas físicas envolvidas nesse experimento: 1 velocidade inicial de lançamento,
Leia mais4) Quais são os elementos químicos que apresentam efeito ferromagnético? 5) Explique detalhadamente o processo de magnetização.
1) Como são chamados os pequenos volumes magnéticos formados em materiais ferromagnéticos? 2) Em um átomo de elemento ferromagnético de onde provém o campo magnético? Represente um modelo simplificado
Leia maisANEXO I INSTALAÇÃO DE DISPOSITIVOS DE ILUMINAÇÃO E SINALIZAÇÃO LUMINOSA
ANEXO I INSTALAÇÃO DE DISPOSITIVOS DE ILUMINAÇÃO E SINALIZAÇÃO LUMINOSA 1. Especificações Gerais 1.1. Os dispositivos de sinalização de luz e iluminação serão montados de tal forma que, durante as condições
Leia mais= 36 = (m/s) = 10m/s. 2) Sendo o movimento uniformemente variado, vem: V = V 0 0 = 10 4,0. T T = 2,5s
11 FÍSICA Um veículo está rodando à velocidade de 36 km/h numa estrada reta e horizontal, quando o motorista aciona o freio. Supondo que a velocidade do veículo se reduz uniformemente à razão de 4 m/s
Leia maisPARÂMETROS DOS EQUIPAMENTOS RADIOLOGIA
PARÂMETROS DOS EQUIPAMENTOS RADIOLOGIA PARÂMETROS A SEREM AVALIADOS CRITÉRIOS DE DESEMPENHO FREQUÊNCIA MÍNIMA Levantamento Radiométrico Valores de dose externa com níveis inferiores a QUADRIANUAL/ Na aceitação
Leia maisFísica III-A /1 Lista 1: Carga Elétrica e Campo Elétrico
Física III-A - 2018/1 Lista 1: Carga Elétrica e Campo Elétrico Prof. Marcos Menezes 1. Duas partículas com cargas positivas q e 3q são fixadas nas extremidades de um bastão isolante de comprimento d. Uma
Leia maisAPOSTILA PREPARATÓRIA DE MEDICINA PROVAS DA UNIGRANRIO DE FÍSICA RESOLVIDAS E COMENTADAS
APOSTILA PREPARATÓRIA DE MEDICINA PROVAS DA UNIGRANRIO DE FÍSICA RESOLVIDAS E COMENTADAS AUTOR: SÍLVIO CARLOS PEREIRA TODO O CONTEÚDO DESTE MATERIAL DIDÁTICO ENCONTRA-SE REGISTRADO. PROTEÇÃO AUTORAL VIDE
Leia maisEletromagnetismo para Geociências. Experiência 1 Força elétrica sobre um feixe de elétrons. 1 o semestre de 2010
4310291 Eletromagnetismo para Geociências Experiência 1 Força elétrica sobre um feixe de elétrons 1 o semestre de 2010 10 de março de 2010 1. Força elétrica sobre um feixe de elétrons Objetivos: Estudar
Leia maisESTRUTURA DOS SÓLIDOS CRISTALINOS CAP. 03 Parte II
UNIVERSIDADE DO ESTADO DE SANTA CATARINA CENTRO DE CIÊNCIAS TECNOLÓGICAS DEPARTAMENTO DE ENGENHARIA MECÂNICA PROGRAMA DE PÓS-GRADUAÇÃO EM CIÊNCIA E ENGENHARIA DE MATERIAIS - PGCEM ESTRUTURA DOS SÓLIDOS
Leia maisChamamos de instrumentos de projeção aqueles que fornecem uma imagem real, que pode, portanto, ser projetada em um anteparo, uma tela ou um filme.
Chamamos de instrumentos de projeção aqueles que fornecem uma imagem real, que pode, portanto, ser projetada em um anteparo, uma tela ou um filme. A câmera fotográfica é constituída essencialmente por
Leia maisPROJETO ESPECÍFICAS - UERJ
1) O gráfico mostra como varia a força de repulsão entre duas cargas elétricas, idênticas e puntiformes, em função da distância entre elas. 9 Considerando a constante eletrostática do meio como k 910 Nm
Leia maisRede Recíproca. CF086 - Introdução a Física do Estado Sólido 1
Rede Recíproca CF086 - Introdução a Física do Estado Sólido 1 Recordando... Redes de Bravais: conjunto de pontos do espaço que respeitam duas definições 1. Conjunto (infinito) de pontos do espaço com uma
Leia maisSegundo Semestre de 2009
AC TORT 1/2009 1 Instituto de Física UFRJ 2 a Avaliação a Distância de Física 3A - AD2 Pólo : Nome : Assinatura : Segundo Semestre de 2009 Data: 1 o Q 2 o Q 3 o Q 4 o Q Nota Problema 1 Considere um elétron
Leia maisPMT-3302 (Diagramas de Fases) Augusto Camara Neiva AULA 8. Determinação de um diagrama de fases Parte 1
PMT-3302 (Diagramas de Fases) Augusto Camara Neiva AULA 8 Determinação de um diagrama de fases Parte 1 Determinação de um diagrama de fases Aspecto geral Identificar fases Identificar microestruturas Detalhamento
Leia maisNoções iniciais de Desenho Geométrico
INSTITUTO FEDERAL DE EDUCAÇÃO, CIÊNCIA E TECNOLOGIA DO RIO GRANDE DO NORTE Noções iniciais de Desenho Geométrico Professor: João Carmo INTRODUÇÃO O desenho é a maneira de expressar graficamente a FORMA
Leia maisFigura. 5.1 Resposta do LED de 5 mm de diâmetro em função da corrente elétrica aplicada.
56 5 Resultados Neste capítulo serão apresentados os resultados das medidas experimentais feitas no presente trabalho. Para facilitar a compreensão, o texto procura seguir a mesma seqüência que aquela
Leia maisPMR2560 Visão Computacional Detecção de bordas. Prof. Eduardo L. L. Cabral
PMR56 Visão Computacional Detecção de bordas Prof. Eduardo L. L. Cabral Objetivos Processamento de imagens: Características; Detecção de bordas. Características Tipos de características: Bordas; Cantos;
Leia maisNOTAS DE AULAS DE FÍSICA MODERNA
NOTAS DE AULAS DE FÍSICA MODERNA Prof. Carlos R. A. Lima CAPÍTULO 3 PROPRIEDADES CORPUSCULARES DA RADIAÇÃO Edição de novembro de 2011 CAPÍTULO 3 PROPRIEDADES CORPUSCULARES DA RADIAÇÃO ÍNDICE 3.1- Efeito
Leia maisA perspectiva geométrica é uma projeção que resulta numa imagem semelhante aquela vista pelo nosso sentido da visão.
PERSPECTIVA GEOMÉTRICA OU EXATA A. Introdução B. Elementos C. Tipos: paralela ou axonométrica / cônica D. Projeção paralela: isométrica, militar, cavaleira. A. Na perspectiva geométrica Utilizamos os sistemas
Leia maisDESENHAR COM PRECISÃO - O SISTEMA DE COORDENADAS
DESENHAR COM PRECISÃO - O SISTEMA DE COORDENADAS Para criar linhas, polígonos, sólidos ou outros objetos, sempre teremos que informar o Rhino o ponto de partida e o ponto final. Tais pontos podem ser criados
Leia maisCPV MARÉ/ CEASM Física I CIÊNCIAS DA NATUREZA E SUAS TECNOLOGIAS Prof. Carlos
Leis de Newton II 1 Um bloco de massa m = 10kg, movimenta-se força horizontal F de intensidade de 30N. O a mesa é μ d = 0,20. Sendo g = 10m/s²,. 2 - Um bloco de massa m = 20kg, movimentase força horizontal
Leia maisF a força aplicada pelo rapaz.
E s c o l a S e c u n d á r i a d e A l c á c e r d o S a l Ano letivo 2011/2012 Física e Química A Bloco II Teste Sumativo 3A 14/02/2012 1. Um rapaz empurra, com velocidade constante, um bloco de massa
Leia maisResistência elétrica de uma barra (prismática ou cilíndrica) de área A e comprimento L
Universidade Federal do Paraná Setor de Ciências Exatas Departamento de Física Física III Prof. Dr. Ricardo uiz Viana Referências bibliográficas: H. 28-4, 29-4, 29-6 S. 26-4, 27-2 T. 22-2 ula Resistores
Leia maisTeoria - Difração e Interferência
Objetivos Teoria - Difração e Interferência Observar os fenômenos de difração e interferência da luz; Medir o diâmetro de um fio de cabelo. Introdução Um feixe de luz coerente, ao atravessar uma fenda
Leia maisIntrodução à Nanotecnologia
Introdução à Nanotecnologia Ele 1060 Aula 6 2010-01 Microscopia Importância Visualizar objetos muitos pequenos Caracterizar materiais; Estudar propriedades; Observar defeitos; Investigar comportamentos.
Leia maisx + x x 3 + (a + x) x = 0
MESTRDO INTEGRDO EM ENG. INFORMÁTIC E COMPUTÇÃO 07/08 EIC000 FÍSIC I º NO, º SEMESTRE 7 de junho de 08 Nome: Duração horas. Prova com consulta de formulário e uso de computador. O formulário pode ocupar
Leia maisFundamentos para Eletrônica e Sistemas de Medidas
Fundamentos para Eletrônica e Sistemas de Medidas Prof.: Geraldo Cernicchiaro geraldo@cbpf.br O curso pretende apresentar fundamentos físicos para se entender a eletrônica, e as bases de tecnologia moderna,
Leia maisRaios-x. Proteção e higiene das Radiações Profª: Marina de Carvalho CETEA
Raios-x Proteção e higiene das Radiações Profª: Marina de Carvalho CETEA Materiais Radioativos 1896 o físico Francês Becquerel descobriu que sais de Urânio emitia radiação capaz de produzir sombras de
Leia maisCapítulo 36 Difração
Capítulo 36 Difração O que é a difração? Difração é um fenômeno, manifestado pelo espalhamento da luz de acordo com o princípio de Huygens, que ocorre com as ondas quando elas passam por um orifício ou
Leia maisO Elétron como Onda. Difração de Bragg
O Elétron como Onda Em 1924, de Broglie sugeriu a hipótese de que os elétrons poderiam apresentar propriedades ondulatórias além das suas propriedades corpusculares já bem conhecidas. Esta hipótese se
Leia maisLEIA ATENTAMENTE AS INSTRUÇÕES ABAIXO:
LEIA ATENTAMENTE AS INSTRUÇÕES ABAIXO: 1 Essa prova destina-se exclusivamente a alunos do 1 o e o anos e contém vinte (0) questões. Os alunos do 1 o ano devem escolher livremente oito (8) questões para
Leia maisPROGRAD / COSEAC Padrão de Respostas Física Grupo 04
1 a QUESTÃO: Dois blocos estão em contato sobre uma mesa horizontal. Não há atrito entre os blocos e a mesa. Uma força horizontal é aplicada a um dos blocos, como mostra a figura. a) Qual é a aceleração
Leia maisLista de Exercícios 1 Forças e Campos Elétricos
Lista de Exercícios 1 Forças e Campos Elétricos Exercícios Sugeridos (21/03/2007) A numeração corresponde ao Livros Textos A e B. A19.1 (a) Calcule o número de elétrons em um pequeno alfinete de prata
Leia maisF-328 Física Geral III
F-328 Física Geral III Aula exploratória- 08 UNICAMP IFGW F328 1S2014 1 Pontos essenciais Campo magnético causa uma força sobre uma carga em movimento Força perpendicular a: Campo magnético Velocidade
Leia maisElementos de Engenharia Civil 2009/2010. Enunciados dos problemas *
DEPARTAMENTO DE ENGENHARIA CIVIL E ARQUITECTURA SECÇÁO DE HIDRÁULICA E RECURSOS HÍDRICOS E AMBIENTAIS Elementos de Engenharia Civil 2009/2010 2 SEMESTRE Enunciados dos problemas * (módulo de Hidráulica)
Leia mais