STSE - Simulação e Teste de Sistemas Electrónicos Ano lectivo 2004/5-2º Exame - 12 de Fevereiro de 2005 Duração: 1ª parte 45 minutos.

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1 STSE - Simulção e Teste de Sistems Eletrónios Ano letivo 2004/5-2º Exme - 12 de Fevereiro de 2005 Durção: 1ª prte 45 minutos Número: Nome: 1ª Prte Questionário de respost múltipl d respost ert vle 0,5 e d respost errd desont 0,125. Utilize o pr ssinlr s resposts orrets. Est prte deve ser respondid sem onsult dos elementos de estudo. Simulção Lógi 1 N entrd do iruito d figur 1 é plido o vetor lógio (lógi de três vlores) (,,) = (0,X,1). A respost que se otém em x e y tem o vlor: ) (x,y) = (1,0) ) (x,y) = (0,0) ) (x,y) = (0,1) d) (x,y) = (1,1) Figur 1 x y 2 Considere um lógi de ino vlores ( 0 vlor lógio flso, 1 vlor lógio verddeiro, X vlor lógio desonheido, u trnsição 0 1 e d trnsição 1 0). Qundo se plim ns entrds do iruito d figur 1 os vetores (0,X,U) e (0,0,1) os vetores respost são, respetivmente: ) (1,1) e (1,X) ) (X,d) e (0,1) ) (1,u) e (1,1) d) (1,1) e (1,0) Simulção de Flts 3 No iruito d figur 1, flt stuk-t-1 é detetd pelo vetor (,,) = ) (1,0,0) ) (0,0,1) ) (1,1,0) d) não é detetd g4 g5 Figur 2 4 No iruito d figur 2, o vetor (0,0,1) permite detetr s flts simples: ) stuk-t-1 e stuk-t 1 ) stuk-t-1 e stuk-t 0 ) stuk-t-0 e stuk-t 1 d) stuk-t-0 e stuk-t 0

2 5 Assinle firmção orret: ) O modelo de flts nó stuk-t signifi que o nó está permnentemente o vlor lógio 0. ) O modelo de flts ssoido um nó de um iruito em erto onsiste em olor esse nó stuk-t-0. ) O modelo de flts ssoido um ridging entre dois nós onsiste, normlmente, n relizção d operção nd (ou or) entre os vlores lógios presentes nos nós em urto-iruito. d) O modelo de flts nó stuk-t signifi que o nó está permnentemente o vlor lógio 1. Oservilidde e Controlilidde g4 Figur 2 g5 6 No iruito d figur 2 (que qui se repete), onsiderndo métris pr s funções de usto oservilidde e ontrolilidde seds n distâni, otém-se o seguinte vlor: ) C1() = 2 ; ) C0() = 3 ; ) O(g4) = 1 ; d) C0() = 1 Gerção do teste pr iruitos omintórios 7 A oertur de flts ) otid trvés d plição de testes gerdos de modo letório ument om o número de ports do iruito ) num iruito om elementos redundntes pode ser express pelo quoiente: (número de flts detetds)/(número de flts totl-número de flts indetetáveis) ) num iruito é sempre dd pelo quoiente: (número de flts detetds)/(número de flts totl) d) é de 100% qundo se plim tods s ominções de vetores ns entrds 8 A gerção de testes pr iruitos omintórios trvés do método do minho rítio, onsiste em ) Pr d síd do iruito, determinr todos os vetores de entrd que tornm rítios os minhos que trvessm o iruito. ) Pr todos os vetores de entrd do iruito, determinr os minhos rítios que trvessm o iruito. ) Pr d nó do iruito, determinr os minhos rítios que ligm esse nó um ou váris síds do iruito. d) Pr d nó do iruito, determinr os minhos rítios que ligm esse nó um ou váris entrds do iruito.

3 Teste de Memóris 9 O teste de memóris pode fzer-se reorrendo um modelo funionl reduzido de flts tmém onheido por modelo funionl de vn de Goor. Esse modelo de flts é sufiiente pr o teste funionl de memóris e onsider s seguintes flts: ) Flts stuk-t (SAF) e flts de trnsição (TF) ) SAF e flts de oplmento (CF) ) SAF, TF e flts sensíveis pdrões vizinhos (NPSF) d) SAF, TF, CF e NPSF DFT(Design for Testility) 10 Assinle firmção inorret: ) As ténis de DFT têm por ojetivo diminuir o usto do proesso de teste, melhorndo ontrolilidde, oservilidde e preditilidde de um iruito ) A utilizção de pontos de teste suplementres é um ds proposts pr o umento d oservilidde de um iruito ) O oneito de oundry sn permite, no projeto de iruitos omplexos e pr efeito do teste, isolr um módulo dos outros que onstituem o iruito. d) As ténis de DFT reomendm evitr-se utilizção de multiplexers no projeto de iruitos digitis omplexos. Aplição do Teste 11 A operção de urn-in plid pls de iruitos digitis, onsiste em: ) plir um onjunto de vetores de teste à pl de modo que o iruito queç. ) olor pl num estuf um tempertur superior à tempertur miente, pr que pl envelheç de um modo elerdo. ) queer e rrefeer pl de modo provor-lhe um hoque térmio d) plir vetores de teste e simultnemente queer pl, olondo- em miente húmido de modo oservr o seu omportmento em ondições dverss Simulção de Ciruitos Elétrios 12 Qul destes onjuntos de ténis de esrit de equções elétris que ontém métodos que permitem (todos eles) resolver qulquer iruito elétrio ) Método Nodl Modifido (MNA) e Método do Qudro Esprso (STA) ) MNA e Método ds Mlhs ) STA e Análise Nodl d) MNA, STA e Método ds Mlhs

4 STSE Simulção e Teste de Sistems Eletrónios 2º Exme de Simulção e Teste de Sistems Eletrónios (12 de Fevereiro de 2005) Durção: 2ª prte 2 hors 2ª Prte Com onsult dos elementos de estudo Os grupos têm igul otção (Totl 14 vlores). 1 Simulção lógi Figur 1 x y "1" "1" "0" Efetue simulção lógi pr o iruito d figur 1, onsiderndo os dois modelos de trso desritos ns línes ) e ). Os estímulos, em mos os sos, são s forms de ond indids n figur. Esoe form de ond em d um dos nós do iruito té não hver mis onteimentos pendentes. Admit que os estímulos estão presente nos nós de entrd desde t=-. ) Considere que tods s ports lógis presentm um idêntio modelo de trso de trnsporte om t trso = 2 uniddes de tempo. ) Considere que utiliz um modelo de trso míguo, tmém idêntio pr tods s ports lógis, de vlores t suid min = 2 ; t suid mx =3 ; t desid min = 1 e t desid mx =2. Qul o número mínimo de vlores lógios que permite utilizção deste modelo de trso? 2 Simulção de flts t Figur 2 d e f g No iruito d figur 2 onsidere tods s flts simples do tipo stuk-t nos nós,,, d, e, f, g e todos os vetores de teste. ) Constru um diionário de flts pr o iruito. Qunts lsses de flts equivlentes existem? ) Qul flt ou flts que, presentes no iruito, determinm s seguintes resposts: g(0,0,1)=1, g(0,0,1)=0. ) Existirá lgum onjunto de testes que permitm dignostir o nó e 0?

5 3 Gerção de vetores de teste pr iruitos omintórios f d h Figur 3 e g Considere o iruito d figur 3 e flt d stuk-t 0. ) Determine um vetor de teste proprido à deteção dess flt, explindo os diversos pssos efetudos pr otenção do vetor de teste. ) Utilizndo um método lgério, determine (so exist) um vetor de teste proprido à deteção simultâne d flt f stuk-t 0 e g stuk-t 1. Justifique o resultdo. 4 Teste de Memóris Um flt é do tipo oplmento om inversão (CFin) qundo um trnsição (sendente ou desendente) num élul j inverte o onteúdo de um élul djente i. Admit que pli o teste desrito por { (w0); (r0, w1); (r1, w0); (r0) }. ) Indique se este teste detet s flts do tipo oplmento om inversão (CFin) e prove firmção. ) Prove que o teste desrito detet flts do tipo stuk-t. Figur 4 5 Simulção elétri V1 e1 - + I4=Gm*v2 G2 e2 e3 G3 G5 - v2 + Pr o iruito d figur 4, ) Esrev s equções nodis (MNA) do iruito. ) Determine o vlor ds tensões nodis em e2 e e3. (Assum: G2= 0,1 S; G3 = 0,2 S; G5 = 0,5 S; V1 = 1V; i4 = Gm*v2; Gm = 2S) ) Esrev s equções nodis de um iruito idêntio este, resido de um dmitâni ligd em prlelo om I4 (entre os nós e2 e e3).